[发明专利]硬盘性能测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品

权利要求书

1.一种硬盘性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：

响应于待测试硬盘的测试指令，根据所述测试指令中携带的配置参数，确定所述待测试硬盘所属的处理器节点；

从所述处理器节点内所有处理器核心中确定所述待测试硬盘的目标处理器核心；

通过所述目标处理器核心对所述待测试硬盘进行测试，以得到所述待测试硬盘的性能测试结果。

2.根据权利要求书1所述的方法，其特征在于，所述配置参数包括所述待测试硬盘的标识信息；所述根据所述测试指令中携带的配置参数，确定所述待测试硬盘所属的处理器节点，包括：

根据待测试硬盘的标识信息和预设的硬盘与处理器节点之间的对应关系，确定所述待测试硬盘所属的处理器节点。

3.根据权利要求书1或2所述的方法，其特征在于，所述从所述处理器节点内所有处理器核心中确定所述待测试硬盘的目标处理器核心，包括：

获取所述待测试硬盘所属的处理器节点内的所有处理器核心的优先级信息；

根据预设的硬盘与处理器核心数量之间的映射关系，按照各所述处理器核心的优先级，在所述处理器节点内所有处理器核心中确定所述待测试硬盘的目标处理器核心。

4.根据权利要求书3所述的方法，其特征在于，所述根据预设的硬盘与处理器核心数量之间的映射关系，按照各所述处理器核心的优先级，在所述处理器节点内所有处理器核心中确定所述待测试硬盘的目标处理器核心，包括：

根据预设的硬盘与处理器核心数量之间的映射关系，确定所述目标处理器核心的所需数量；

按照各所述处理器核心的优先级从高到低的顺序，从所述所有处理器核心中获取与所述所需数量相同的处理器核心作为所述待测试硬盘的目标处理器核心。

5.根据权利要求书1或2所述的方法，其特征在于，所述通过所述目标处理器核心对所述待测试硬盘进行测试，以得到所述待测试硬盘的性能测试结果，包括：

获取所述待测试硬盘的测试进程；

将所述测试进程绑定到所述待测试硬盘的目标处理器核心上，得到所述待测试硬盘对应的测试模型；

通过所述测试模型对所述待测试硬盘进行测试，得到所述待测试硬盘的性能测试结果。

6.根据权利要求书1或2所述的方法，其特征在于，若所述待测试硬盘为多个，且所述配置参数中携带有测试模式标识，所述通过所述目标处理器核心对所述待测试硬盘进行测试，包括：

根据所述测试模式标识，确定所述待测试硬盘的测试模式类型；

采用所述测试模式类型对应的测试方式，通过各所述待测硬盘的目标处理器核心对对应待测试硬盘进行测试。

7.根据权利要求书6所述的方法，其特征在于，所述采用所述测试模式类型对应的测试方式，通过各所述待测硬盘的目标处理器核心对对应待测试硬盘进行测试，包括：

若所述测试方式为单个测试方式，则依次对各所述待测试硬盘进行测试；

若所述测试方式为并行测试方式，则并行对各所述待测试硬盘进行测试。

8.根据权利要求书1或2所述的方法，其特征在于，所述配置参数中还包括所述待测试硬盘的读写模式，在所述通过所述目标处理器核心对所述待测试硬盘进行测试之前，所述方法还包括：

若所述读写模式为随机读写模式，则将所述待测试硬盘的状态调整为随机稳态；所述随机稳态为所述待测试硬盘对应的随机读写模式下的稳定状态；

若所述读写模式为顺序读写模式，则将所述待测试硬盘的状态调整为顺序稳态；所述顺序稳态为所述待测试硬盘对应的顺序读写模式下的稳定状态。

9.一种硬盘性能测试装置，其特征在于，所述装置包括：

响应模块，用于响应于待测试硬盘的测试指令，根据所述测试指令中携带的配置参数，确定所述待测试硬盘所属的处理器节点；

确定模块，用于从所述处理器节点内所有处理器核心中确定所述待测试硬盘的目标处理器核心；

测试模块，用于通过所述目标处理器核心对所述待测试硬盘进行测试，以得到所述待测试硬盘的性能测试结果。