[发明专利]一种海缆抗高压穿舱试验装置及试验方法

权利要求书

1.一种海缆抗高压穿舱试验装置，其特征在于，其包括：

密封体(1)，所述密封体(1)内具有密封容腔(11)，所述密封容腔(11)用于收容被测试海缆(5)；

密封装置(2)，所述密封装置(2)安装于所述密封体(1)，且将所述密封体(1)的端部密封；

固定装置(3)，所述固定装置(3)安装于所述密封装置(2)，且所述固定装置(3)用于锁定所述被测试海缆(5)，阻止所述被测试海缆(5)向穿入或者穿出所述密封容腔(11)的方向移动；

以及光电测试仪器(4)，所述光电测试仪器(4)用于与所述被测试海缆(5)串接，对所述被测试海缆(5)的光电性能参数指标进行监控和测试。

2.如权利要求1所述的海缆抗高压穿舱试验装置，其特征在于：

所述固定装置(3)包括互相锁紧的两个端盖(31)，两个端盖(31)之间还设置有夹持体(32)，所述夹持体(32)内设有穿孔(33)，所述穿孔(33)用于收容所述被测试海缆(5)；

当两个所述端盖(31)锁紧时，两个所述端盖(31)提供驱动所述夹持体(32)夹紧所述被测试海缆(5)的驱动力。

3.如权利要求2所述的海缆抗高压穿舱试验装置，其特征在于：

所述夹持体(32)包括至少两个夹块(321)，至少两个所述夹块(321)围成所述穿孔(33)，且至少两个所述夹块(321)与两个所述端盖(31)配合，使得当两个所述端盖(31)锁紧时，两个所述端盖(31)推动至少两个所述夹块(321)向靠近所述穿孔(33)的轴线方向移动以夹紧所述被测试海缆(5)。

4.如权利要求2所述的海缆抗高压穿舱试验装置，其特征在于：

两个所述端盖(31)的一侧通过活页(34)连接，两个所述端盖(31)的另一侧通过锁紧螺栓(35)锁紧，且当两个所述端盖(31)锁紧时，两个所述端盖(31)之间具有间隙。

5.如权利要求4所述的海缆抗高压穿舱试验装置，其特征在于：

其中一个所述端盖(31)设有固定轴(36)，所述锁紧螺栓(35)套设于所述固定轴(36)，且所述锁紧螺栓(35)可绕所述固定轴(36)的轴线转动，所述锁紧螺栓(35)远离所述固定轴(36)的一端设有螺母(37)，所述锁紧螺栓(35)通过所述螺母(37)将两个所述端盖(31)锁紧；

并且，两个所述端盖(31)对应所述锁紧螺栓(35)处均设有缺口，使得所述锁紧螺栓(35)与所述螺母(37)分离后，所述锁紧螺栓(35)可绕所述固定轴(36)的轴线旋转至所述端盖(31)的一侧。

6.如权利要求2所述的海缆抗高压穿舱试验装置，其特征在于：

两个所述端盖(31)的相对两侧均通过锁紧螺栓(35)锁紧，且当两个所述端盖(31)锁紧时，两个所述端盖(31)之间具有间隙。

7.如权利要求1所述的海缆抗高压穿舱试验装置，其特征在于：

所述密封体(1)的两端均设有所述密封装置(2)，每一所述密封装置(2)上均设有所述固定装置(3)。

8.一种使用如权利要求1所述的海缆抗高压穿舱试验装置的海缆试验方法，其特征在于，其包括以下步骤：

将被测试海缆(5)从密封装置(2)穿出密封容腔(11)；

使用固定装置(3)将被测试海缆(5)锁定在所述密封装置(2)上；

将被测试海缆(5)的光纤或者电导体与光电测试仪器(4)串接；

对所述密封容腔(11)内的被测试海缆(5)加压，并进行光电性能参数指标进行监控和测试。

9.如权利要求8所述的海缆试验方法，其特征在于，所述将被测试海缆(5)的光纤或者电导体与光电测试仪器(4)串接，包括：

将被测试海缆(5)一端的光纤或者电导体与光电测试仪器(4)的输入端进行串接。

10.如权利要求8所述的海缆试验方法，其特征在于，所述将被测试海缆(5)的光纤或者电导体与光电测试仪器(4)串接，包括：

将被测试海缆(5)一端的光纤与光电测试仪器(4)的输入端进行串接，并将被测试海缆(5)另一端的光纤与该端的光纤进行串接。