[发明专利]一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法

说明书

本申请公开了一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法，可以直接利用已有的VCM驱动芯片进行FRA测试，计算出VCM的频率响应特性，完成FRA测试工具的所有功能(产生正弦信号驱动VCM、检测VCM的输出信号以及计算VCM的频率响应特性)，减少FRA测试时的测试设备的数量和种类，从而降低FRA测试成本和测试环境复杂度，达到方便快捷的实现FRA测试的目的。

技术领域

本发明涉及硬件测试技术领域，特别是涉及一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法。

背景技术

当前手机作为现代社会科技进步的象征，已经成为每个人都几乎必须拥有的工具。而手机拍照功能已经成为手机性能高低的因素之一，因此提高手机拍摄质量也成为各个手机厂商努力的方向。为了满足手机厂商对高质量拍摄的需求，很多芯片设计厂商研发出多种类型AF和OIS驱动芯片，其中AF驱动芯片用于当手机和拍摄物体距离改变时，自动调整聚光镜头(AF镜头)前后移动到最佳位置，使物体在感光Sensor上成像最清晰；而OIS驱动芯片，用于当正在拍摄照片的手机由于人手的抖动，造成图像模糊时，可以通过陀螺仪等设备检测出手机的抖动距离和方向，然后驱动防抖镜头(OIS镜头)移动相同的距离，以补偿人手的抖动，最终生成清晰的图像。

在驱动AF镜头和VCM镜头移动到指定位置时，需要在驱动芯片中增加控制算法，使镜头能快速稳定的移动到该指定位置。控制算法要想达到理想的控制效果，就需要根据镜头的F0、F1等频率点，以及幅值裕度、相角裕度等特性，调整控制算法的参数。而要检测出镜头的F0、F1频点，幅值裕度和相角裕度等参数，需要一种工具能检测出镜头的频率响应特性，FRA测试工具由此应运而生。

现有的FRA测试工具，如图1所示，包括：产生正弦信号的信号发生器11(用于给VCM提供输入信号)、测量VCM输出的信号检测仪12和计算输入与输出之间频率特性的分析仪13等测试设备。也即在进行FRA测试时，需要配置较多的测试设备，才能够完成FRA测试，且测试设备体积庞大、价格高昂，且需要专业人员才能操作，测试环境复杂。

发明内容

本发明的目的在于提出一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法，用以降低FRA测试成本和测试环境复杂度，达到方便快捷的实现FRA测试的目的。

为达到上述目的，本发明提供了以下技术方案：

一种FRA测试装置，包括：VCM驱动芯片；

所述VCM驱动芯片的输出端与待测试的VCM的输入端相连，所述VCM的输出端与所述VCM驱动芯片的输入端相连；

所述VCM驱动芯片用于，获取所述VCM驱动芯片所在的电子设备的控制器输出的正弦信号参数值，生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，将所述正弦信号输出至所述VCM，获取所述VCM的输出信号，根据所述正弦信号和所述输出信号，进行幅频特性计算和相频特性计算，以确定所述VCM的频率响应特性。

可选地，所述VCM驱动芯片包括数模转换电路、模数转换电路和数字信号处理器；

所述数模转换电路的输入端与所述数字信号处理器的输出端连接，所述数模转换电路的输出端与所述VCM的输入端相连；

所述模数转换电路的输入端与所述VCM的输出端连接，所述模数转换电路的输出端与所述数字信号处理器的输入端连接；

所述数字信号处理器用于获取所述VCM驱动芯片所在的电子设备的控制器输出的正弦信号参数值，生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，通过所述数模转换电路将所述正弦信号输出至所述VCM，通过所述模数转换电路获取所述VCM的输出信号，根据所述正弦信号和所述输出信号，进行幅频特性计算和相频特性计算，以确定所述VCM的频率响应特性。

可选地，所述VCM驱动芯片用于生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，将所述正弦信号输出至所述VCM时，具体用于：