[发明专利]一种单光子雪崩二极管及其制备方法在审
申请号: | 202211481931.9 | 申请日: | 2022-11-24 |
公开(公告)号: | CN115528128A | 公开(公告)日: | 2022-12-27 |
发明(设计)人: | 马静;刘超晖;兰潇健;马四光 | 申请(专利权)人: | 季华实验室 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L31/0232;H01L31/18 |
代理公司: | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人: | 姚金金 |
地址: | 528200 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光子 雪崩 二极管 及其 制备 方法 | ||
本公开涉及一种单光子雪崩二极管及其制备方法,该单光子雪崩二极管包括:衬底层、器件层以及非周期性光栅;器件层内嵌于衬底层内,非周期性光栅设置于器件层未被衬底层包覆的表面;非周期性光栅用于使入射的光线发生衍射和共振耦合;器件层用于将入射光信号进行光电响应生成电信号。由此,通过设置衬底层、器件层以及非周期性光栅,形成具有非周期性光栅的单光子雪崩二极管,基于非周期性光栅对入射的光线的衍射和共振耦合作用,将光耦合到器件层提升了光子吸收效率,增强了光吸收效果,利于单光子雪崩二极管实现高灵敏度的光电探测。
技术领域
本公开涉及半导体光电子技术领域,尤其涉及一种单光子雪崩二极管及其制备方法。
背景技术
基于硅的单光子雪崩二极管(Single Photon Avalanche Diode,SPAD)是一种工作在盖格模式下的单光子器件,由于其具有单光子计数灵敏度和超快时间分辨率,所以可以用于检测和准确测量可见光谱(波长在400nm-600nm)中的光子。但由于硅材料对于波长在近红外(Near Infrared,NIR)区域(波长在800nm-1000nm)的光子吸收效率较低,因此单光子雪崩二极管在近红外区域的性能仍有待提高。
其中,现有技术中大多是通过增加耗尽层厚度来提升光子吸收效率的,但是过厚的耗尽层需要更高的电场强度,使得工作电压变高,导致器件功率变大,同时耗尽层过厚会使得器件的抖动时间增加,导致光子分辨率降低。此外,现有技术中还使用周期性金属光栅来提升器件性能,但是传统的周期性金属光栅结构由于其对称性的限制,使得一些共振不能被耦合进入射光,导致光吸收效果减弱。
发明内容
为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题,本公开提供了一种单光子雪崩二极管及其制备方法。
本公开提供了一种单光子雪崩二极管,包括:衬底层、器件层以及非周期性光栅;
所述器件层内嵌于所述衬底层内,所述非周期性光栅设置于所述器件层未被所述衬底层包覆的表面;
所述非周期性光栅用于使入射的光线发生衍射和共振耦合;
所述器件层用于基于入射光信号进行光电响应生成电信号。
可选地,所述衬底层包括交替设置的硅层和二氧化硅层,以形成谐振腔;或者,所述衬底层为硅层;
其中,包覆所述器件层的为硅层。
可选地,所述非周期性光栅为非周期性金属光栅。
可选地,所述非周期性光栅包括间隔设置的遮光部,相邻的两个所述遮光部之间设置镂空部;
其中,在垂直于所述遮光部的延伸方向上,至少两个所述遮光部的宽度不相等,和/或,至少两个所述镂空部的宽度不相等。
可选地,该单光子雪崩二极管还包括钝化层;
所述钝化层设置于所述非周期性光栅和所述器件层之间,用于保护所述器件层。
本公开还提供了一种单光子雪崩二极管的制备方法,用于制备以上任一种所述的二极管;所述方法包括:
提供衬底层;
在所述衬底层的一侧表面内嵌形成器件层;
在所述器件层未被所述衬底层包覆的表面形成非周期性光栅。
可选地,所述提供衬底层,包括:
提供硅层;
或者所述提供衬底层,包括:
提供硅层;
在硅层一侧交替形成二氧化硅层和硅层,且以硅层结束。
可选地,所述在所述器件层未被所述衬底层包覆的表面形成非周期性光栅,包括:
在所述器件层未被所述衬底层包覆的表面形成遮光层;
对所述遮光层进行图案化处理,保留遮光部,以形成所述非周期性光栅;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于季华实验室,未经季华实验室许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211481931.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的