[发明专利]芯片检测夹具及芯片检测工装

权利要求书

1.芯片检测夹具及芯片检测工装，包括底部架，其特征在于,所述底部架的后侧内壁转动连接有多个检测放置箱，所述检测放置箱用于放置芯片主体以便于进行目检；所述检测放置箱上均安装有固定机构以实现对芯片主体的限位，防止芯片主体晃动。

2.根据权利要求1所述芯片检测夹具及芯片检测工装，其特征在于,所述固定机构包括马达A和两个螺杆，所述螺杆的外侧螺纹连接有移动块，两个所述移动块的上端转动有同一个锁紧盖板，两个所述螺杆的前端均套接有皮带轮A，两个所述皮带轮A对称设置于马达A的左右两侧，所述马达A的输出端套接有皮带轮C，两个所述皮带轮A均通过同步带A与皮带轮C摩擦传动配合。

3.根据权利要求2所述芯片检测夹具及芯片检测工装，其特征在于,所述锁紧盖板的两侧均开设有滑槽，所述滑槽中均滑动限位有推动连杆，所述推动连杆的另一端转动设置于检测放置箱的两侧，所述推动连杆用于实现锁紧盖板和检测放置箱的连接，使锁紧盖板可以稳定盖合在检测放置箱的顶端达到固定效果。

4.根据权利要求2所述芯片检测夹具及芯片检测工装，其特征在于,所述检测放置箱的前端均固定连接有马达托架，所述马达A固定设置于马达托架的顶端，所述螺杆转动设置于检测放置箱内部相互远离的一侧，所述移动块滑动设置于检测放置箱的内部两侧。

5.根据权利要求2所述芯片检测夹具及芯片检测工装，其特征在于,所述锁紧盖板的一侧开设有可视槽口，所述检测放置箱的顶端对应可视槽口的位置开设有芯片放置槽，所述芯片放置槽的内侧对称设置有扣槽，所述检测放置箱的两侧对称开设有观察槽口。

6.根据权利要求5所述芯片检测夹具及芯片检测工装，其特征在于,所述检测放置箱的顶端一侧开设有开合孔，所述开合孔的内部设置有紧固机构，所述检测放置箱的底端一侧转动设置有承载板，所述紧固机构包括固定垫，所述固定垫的中间内侧滑动设置有螺柱，所述固定垫的顶端固定设置有弹簧，所述弹簧的另一端固定设置有紧固套环，所述螺柱螺纹连接于紧固套环的底端内侧，所述螺柱的一端滑动设置有顶升杆，所述螺柱一端外侧对称转动设置有紧固支脚，所述紧固支脚通过连杆转动设置于顶升杆的外侧，所述固定垫固定设置于承载板的顶端，所述紧固套环转动设置于检测放置箱的底端一侧。

7.根据权利要求6所述芯片检测夹具及芯片检测工装，其特征在于,位于最左侧或者最右侧的所述锁紧盖板底端均开设有插孔，所述插孔的内侧可插接卡锁柱配合固定；距离最远的两个锁紧盖板一侧均固定设置有定位柱，所述锁紧盖板的一侧活动放置有记位盖板，所述记位盖板的一侧开设有可视槽口，所述可视槽口与芯片放置槽一一对应设置，所述记位盖板对应定位柱的位置开设有扣合孔。

8.根据权利要求7所述芯片检测夹具及芯片检测工装，其特征在于,所述卡锁柱的一端内侧开设有锁槽，所述锁槽设置为倒T字形，所述卡锁柱设置为T字形。

9.根据权利要求1所述芯片检测夹具及芯片检测工装，其特征在于,所述底部架的一侧设置有马达B，所述马达B的驱动端固定设置有皮带轮B，所述皮带轮B之间通过同步带B传动连接，所述马达托架与皮带轮B之间通过联动杆固定连接，所述联动杆贯穿转动设置于底部架的一侧内部。

10.根据权利要求1-9任一所述芯片检测夹具及芯片检测工装的使用方法，其特征在于,包括以下步骤：

通过工具夹持芯片主体放入芯片放置槽中；

启动马达A，皮带轮C通过同步带A带动相对应的皮带轮A转动，皮带轮A的转动带动移动块移动，从而带动锁紧盖板的一侧开始前进，锁紧盖板慢慢倾斜，同时推动连杆的一端会在滑槽的内侧向下滑动，直到锁紧盖板完全盖在检测放置箱的顶端，此时定位柱就会朝上；

将卡锁柱插入开合孔中，转动紧固套环带动螺柱升起，紧固支脚向外展开并卡在锁槽的内侧，从而固定卡锁柱，进而将锁紧盖板固定在检测放置箱的顶端；

启动马达B，皮带轮B通过同步带B开始转动，检测放置箱转动90°以使观察槽口朝上以进行目检；

继续将检测放置箱朝着另外一个方向旋转90°，从另一个观察槽口观察芯片主体；

进行目检时，若是有不合格的芯片主体，则将检测放置箱恢复原位，然后将记位盖板通过扣合孔和定位柱安装，使用记号笔在相应可视槽口位置周围记录，然后将其取下即可。