[发明专利]一种多路超短脉冲合束测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种多路超短脉冲合束测量装置，其特征在于，包括：

超短脉冲发生器(1)，其用于向待测介质(2)发射探测波(3)；

探测阵列，其具有探测端和信号输出端，所述探测阵列的探测端设置在所述待测介质(2)周围，且用于获得所述待测介质(2)产生的散射波(4)；

程控合成器(10)，其输入端与所述探测阵列的输出端电连接；

脉冲串处理器(11)和信号分析处理系统(13)，所述脉冲串处理器(11)的输入端与所述程控合成器(10)的输出端电连接，所述脉冲串处理器(11)的输出端与所述信号分析处理系统(13)的输入端电连接。

2.根据权利要求1所述的一种多路超短脉冲合束测量装置，其特征在于，还包括控制系统(14)，其控制端与所述超短脉冲发生器(1)、所述探测阵列、所述程控合成器(10)、所述脉冲串处理器(11)和所述信号分析处理系统(13)电连接。

3.根据权利要求2所述的一种多路超短脉冲合束测量装置，其特征在于，所述探测阵列包括n个探测单元，n个所述探测单元并联设置，n个所述探测单元的输出端均与所述程控合成器(10)的输入端电连接；

所述探测单元包括探测器(5)、第一隔离器(6)、整形电路(7)和第二隔离器(8)，所述探测器(5)的输出端与所述第一隔离器(6)的输入端电连接，所述第一隔离器(6)的输出端与所述整形电路(7)的输入端电连接，所述整形电路(7)的输出端与所述第二隔离器(8)的输入端电连接，所述第二隔离器(8)的输出端为所述探测单元的输出端，所述探测器(5)用于获得所述待测介质(2)产生的散射波(4)。

4.根据权利要求3所述的一种多路超短脉冲合束测量装置，其特征在于，所述第一隔离器(6)和所述第二隔离器(8)用于防止寄生反射干扰。

5.根据权利要求4所述的一种多路超短脉冲合束测量装置，其特征在于，所述整形电路(7)用于控制散射波(4)波形和通过的时间快慢，并通过所述控制系统(14)控制所述整形电路(7)的输出波形。

6.根据权利要求5所述的一种多路超短脉冲合束测量装置，其特征在于，所述程控合成器(10)用于将n个探测单元输出的短脉冲信号(9)合成为一路输出，并通过所述控制系统(14)和所述整形电路(7)控制所述程控合成器(10)的输出波形。

7.根据权利要求6所述的一种多路超短脉冲合束测量装置，其特征在于，所述脉冲串处理器(11)用于将所述程控合成器(10)的输出信号进行波形整理和放大处理。

8.根据权利要求7所述的一种多路超短脉冲合束测量装置，其特征在于，所述超短波发生器为高能激光发生器或微波发生器。

9.一种多路超短脉冲合束测量方法，其特征在于，基于如权利要求3-8中任一项所述的一种多路超短脉冲合束测量装置，所述测量方法包括：

根据测量需要可使每个探测器(5)的散射角均相同或均不同，所述散射角为探测波(3)和散射波(4)的夹角；

当控制探测器(5)对准待测介质(2)的不同区域时，使每个控制探测器(5)的散射角均相同时，获得待测介质(2)的不同区域同一特征尺度的散射特性。

10.根据权利要求9所述的一种多路超短脉冲合束测量方法，其特征在于，还包括：当控制探测器(5)对准待测介质(2)的同一区域，并使每个控制探测器(5的散射角均不相同时，获得待测介质(2)的同一同区域不同特征尺度的散射特性。