[发明专利]适用于LCD装配流程的多次元评估方法及系统

说明书

本发明涉及LCD装配工艺技术领域，具体而言，涉及适用于LCD装配流程的多次元评估方法及系统，该方法的步骤包括：以第一次元指数作为标的，依次选取关联器具及对应的装配模型作为输出，在选定不同仿真环境表征为LCD的工况执行器具装配评测，并按照第二次元指数作为标的对器具评测结果进行综合排序的同时，依据预设有光学算法的采集模组对LCD进行透镜成像评测，并按照第三次元指数作为标的对透镜评测结果进行排序，结合第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数，并以效率优先作为装配序列进行融合计算，以最优选计算结果作为决策并输出，完成LCD装配流程的多次元评估。

技术领域

本发明涉及LCD装配工艺技术领域，具体而言，涉及适用于LCD装配流程的多次元评估方法及系统。

背景技术

近年来，随着科技技术的不断创新，其对电子器件的装配工艺提出了向智能化发展的需求。目前，LCD的装配工艺技术已愈加成熟，其通常采用根据LCD的设计图纸或框架模型，通过自动或者半自动的方式对其进行装配。然而，这样却存在了以下问题：LCD的装配部件在市面上存在多种，且每种装配部件都是由不同厂商所生产，其质量大小不一，在实际生产中，无法评估各个装配部件对于LCD使用周期的影响，以及装配器具对于各个装配部件兼容性的影响；另外，屏幕作为LCD的显示端，其重要性不言而喻，现有技术中对于LCD的成像效果通常采用摄像头及TTR透镜的组合进行评估检测，由于受光量的影响，常常导致成像检测效果不好。基于此，我们亟需能够适用于LCD装配流程的多次元评估方法。

发明内容

本发明的目的在于提供适用于LCD装配流程的多次元评估方法及系统，通过采用第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数分别对于LCD装配模型、LCD的装配部件及器具以及LCD的成像进行多次元评测，基于最终排序的最优化作为决策，克服了现有技术无法评估各个装配部件对于LCD使用周期的影响，以及装配器具对于各个装配部件兼容性的影响。

本发明的实施例通过以下技术方案实现：

适用于LCD装配流程的多次元评估方法，该方法的步骤包括：

以第一次元指数作为标的，依次选取关联器具及对应的装配模型作为输出，在选定不同仿真环境表征为LCD的工况执行器具装配评测，并按照第二次元指数作为标的对器具评测结果进行综合排序的同时，依据预设有光学算法的采集模组对LCD进行透镜成像评测，并按照第三次元指数作为标的对透镜评测结果进行排序，结合第一次元指数、第二次元指数及第三次元指数，并以效率优先作为装配序列进行融合计算，以最优选计算结果作为决策并输出，完成LCD装配流程的多次元评估。

可选的，对于第一次元指数作为标的，其评估过程为：

输入待建立的LCD装配模型，基于待建立的LCD装配模型获取LCD装配部件，并按照相似度分别选取LCD装配部件植入至模型相应区域，形成多个初始LCD装配模型，通过第一次元指数对多个初始LCD装配模型进行优化计算，同时按照相应价值度进行关联器具筛选，输出LCD装配指令包，所述LCD装配指令包由满足预期值的LCD装配模型及其对应的关联器具所组成。

可选的，对于第一次元指数作为标的的评估过程中，以获取前的LCD装配部件的部件成本及其余成本表征为LCD装配成本，基于设定量对所获取前的LCD装配部件进行过滤后，得到所述LCD装配部件。

可选的，对于第二次元指数作为标的，其评估过程为：

选定不同仿真环境表征为同一批次LCD的工况依次选取LCD装配指令执行器具装配评测，同时以同一批次LCD的故障率与维修周期作为第二次元指数的评测基准，求得LCD的器具评测结果，对LCD的器具评测结果进行综合排序并输出。

可选的，对于第二次元指数作为标的的评估过程中，具体以故障率表征LCD的标准工作时间与维修周期表征LCD的周期修复次数对LCD的器具评测结果进行综合排序，并按照综合排序结果从大到小的顺序输出。