[发明专利]一种半导体照明器件电压检测装置

权利要求书

1.一种半导体照明器件电压检测装置，包括检测台箱(1)和电压检测仪(2)，其特征在于：所述检测台箱(1)内侧的底部通过支撑转轴(12)转动连接有传动盘(3)，且传动盘(3)的表面均匀开设有多组置料口(31)，且置料口(31)处固定连接有置料筒(32)；

所述置料筒(32)的侧部设有定位构件，所述定位构件用于对半导体照明器件进行定位夹持；

所述传动盘(3)的上部设有驱动构件，所述驱动构件用于对定位构件进行驱动。

2.根据权利要求1所述的一种半导体照明器件电压检测装置，其特征在于：所述定位构件包括多组定位杆(41)、多组限位筒(42)、调节环筒(43)，所述限位筒(42)与传动盘(3)的侧部连通，且定位杆(41)贯穿限位筒(42)，所述定位杆(41)位于置料筒(32)内侧的一端通过缓冲件连接有压头(411)；

所述定位杆(41)位于置料筒(32)外侧的一端固定连接有珠座一(412)，且珠座一(412)的珠槽处设有滚珠一(413)，所述定位杆(41)位于置料筒(32)外部的一侧设有弹簧一(44)；

所述调节环筒(43)与置料筒(32)外侧转动连接，且调节环筒(43)的底部开设有调节槽(431)，所述定位杆(41)位于调节槽(431)的内侧，且滚珠一(413)与调节槽(431)相接触。

3.根据权利要求2所述的一种半导体照明器件电压检测装置，其特征在于：所述驱动构件包括凹盘(51)、齿杆(52)和齿轮(53)，所述凹盘(51)与检测台箱(1)内侧的上部固定连接，所述齿杆(52)通过滑动组件与传动盘(3)的上部滑动连接，所述齿轮(53)与调节环筒(43)的外侧固定连接，且齿杆(52)与齿轮(53)啮合传动。

4.根据权利要求3所述的一种半导体照明器件电压检测装置，其特征在于：所述齿杆(52)的一端固定连接有推杆(54)，所述推杆(54)的外侧设有限位滑筒(57)，且限位滑筒(57)的底部与传动盘(3)的表面固定连接；

且推杆(54)远离齿杆(52)的一端固定连接有珠座二(55)，所述珠座二(55)的珠槽处设有滚珠二(551)，所述推杆(54)的外部设有弹簧二(56)，且弹簧二(56)的两端分别与珠座二(55)和限位滑筒(57)相接触。

5.根据权利要求1所述的一种半导体照明器件电压检测装置，其特征在于：所述检测台箱(1)的上表面开设有多组槽口(11)，所述槽口(11)分为进料口、检测口和出料口；

所述检测台箱(1)的下表面连通有下料口(13)，且下料口(13)与出料口垂直对应，所述检测台箱(1)内侧的底部固定连接有托料板(14)，且托料板(14)与进料口位置对应。

6.根据权利要求1所述的一种半导体照明器件电压检测装置，其特征在于：所述检测台箱(1)的上部固定连接有检测架(6)，且检测架(6)的上部设有电推杆(61)，所述电推杆(61)的输出端通过联轴器与电压检测仪(2)固定连接。

7.根据权利要求1所述的一种半导体照明器件电压检测装置，其特征在于：所述检测台箱(1)的底部设有电机(15)，且电机(15)的输出端通过马氏轮机构与支撑转轴(12)的底端连接。

8.根据权利要求2所述的一种半导体照明器件电压检测装置，其特征在于：所述缓冲件包括缓冲筒(71)和缓冲杆(72)，所述缓冲杆(72)贯穿至缓冲筒(71)的内侧，且缓冲杆(72)位于缓冲筒(71)内侧的一端固定连接有限位滑柱(73)，且限位滑柱(73)与缓冲筒(71)的内侧之间设有弹簧三(74)，所述缓冲筒(71)的一端与定位杆(41)固定连接，所述缓冲杆(72)位于缓冲筒(71)外侧的一端与压头(411)固定连接。