[发明专利]一种用于X射线聚焦镜的焦斑半能量宽度确定方法在审
申请号: | 202211512248.7 | 申请日: | 2022-11-29 |
公开(公告)号: | CN115728042A | 公开(公告)日: | 2023-03-03 |
发明(设计)人: | 强鹏飞;杨彦佶;闫永清;杨向辉;盛立志;刘哲;刘永安;周晓红 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 冯素玲 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 射线 聚焦 焦斑半 能量 宽度 确定 方法 | ||
1.一种用于X射线聚焦镜的焦斑半能量宽度确定方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1、测量X射线聚焦镜焦斑,确定X射线聚焦镜焦点位置,并在X射线聚焦镜焦点位置处获得X射线聚焦镜焦斑图像;
步骤2、测量X射线聚焦镜焦斑的灰度值或像素内的沉积光子数,基于X射线聚焦镜焦斑的灰度值或像素内的沉积光子数确定X射线聚焦镜焦斑图像的中心点;
步骤3、基于步骤2确定的X射线聚焦镜焦斑图像的中心点,将焦斑图像从中心点至X射线探测器幅面边沿分割成半径不等的同心圆,测量、记录不同半径同心圆包围范围内的总光子数,并绘制同心圆包围范围内的总光子数随同心圆包围范围变化的统计图,获得从焦斑中心到探测器边沿的能量包围函数曲线;
步骤4、基于步骤2确定的X射线聚焦镜焦斑图像的中心点,将焦斑图像从中心点至X射线探测器幅面边沿分割成半径不等的同心圆,测量、记录由两相邻同心圆组成的单个圆环包围范围内的总光子数,并绘制单圆环包围范围内的总光子数随单圆环包围范围变化的统计图,获得从焦斑中心到探测器边沿的单圆环能量包围函数曲线;
步骤5、根据单圆环能量包围函数曲线的拐点确定X射线聚焦镜焦斑100%的能量范围;
步骤6、根据步骤5中确定的X射线聚焦镜焦斑100%的能量范围,通过步骤3获得的能量包围函数曲线确定X射线聚焦镜焦斑50%的能量范围,其直径为半能量宽度。
2.根据权利要求1所述的用于X射线聚焦镜的焦斑半能量宽度确定方法,其特征在于,步骤5具体为:
当单圆环能量包围函数曲线的拐点唯一时,唯一拐点处的单圆环包围范围对应的单圆环外层圆的位置为X射线聚焦镜焦斑的边界位置,X射线聚焦镜焦斑的边界位置的同心圆的包围范围为X射线聚焦镜焦斑100%的能量范围;
当单圆环能量包围函数曲线的拐点不唯一时,单圆环范围内的总光子数最少的单圆环包围范围对应的单圆环外层圆的位置为X射线聚焦镜焦斑的边界位置,X射线聚焦镜焦斑的边界位置的同心圆的包围范围为X射线聚焦镜焦斑100%的能量范围。
3.根据权利要求2所述的用于X射线聚焦镜的焦斑半能量宽度确定方法,其特征在于:
步骤2中,利用非计数型探测器测量X射线聚焦镜焦斑的灰度值或利用计数型探测器测量像素内的沉积光子数。
4.根据权利要求3所述的用于X射线聚焦镜的焦斑半能量宽度确定方法,其特征在于:
步骤2中,所述基于X射线聚焦镜焦斑的灰度值或像素内的沉积光子数确定X射线聚焦镜焦斑图像的中心点具体为:
若X射线聚焦镜焦斑的灰度值最大或者像素内的沉积光子数最多的像素点唯一,则选择X射线聚焦镜焦斑的灰度值最大或者像素内的沉积光子数最多的像素点对应的坐标点为X射线聚焦镜焦斑图像的中心点;
若所述X射线聚焦镜焦斑的灰度值最大或者像素内的沉积光子数最多的像素点不少于一个,则选择所有X射线聚焦镜焦斑的灰度值最大或者像素内的沉积光子数最多的像素点坐标的平均值对应的坐标点为X射线聚焦镜焦斑图像的中心点。
5.根据权利要求4所述的用于X射线聚焦镜的焦斑半能量宽度确定方法,其特征在于:
所述步骤1中,采用可见光系统或者X射线系统测量X射线聚焦镜焦斑。
6.根据权利要求1-5任一所述的用于X射线聚焦镜的焦斑半能量宽度确定方法,其特征在于:
所述步骤4中,从中心点至X射线探测器幅面边沿的同心圆的半径呈等差数列增长。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211512248.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。