[发明专利]模组测试系统、测试方法、电子设备和计算机存储介质在审

专利信息
申请号: 202211517831.7 申请日: 2022-11-29
公开(公告)号: CN115858261A 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 张保威 申请(专利权)人: 上海移远通信技术股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 成丽杰
地址: 201601 上海市松江*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 模组 测试 系统 方法 电子设备 计算机 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种模组测试系统,其特征在于,包括:上位机,测试模组和被测模组,所述被测模组包括PCIe模组,所述测试模组通过所述上位机的外部接口与所述上位机连接,所述测试模组还与所述被测模组连接;

所述上位机用于向所述测试模组发送测试指令;

所述测试模组用于根据所述上位机发送的所述测试指令,控制所述被测模组开始运行,并获取所述被测模组的运行数据;

所述测试模组还用于将所述被测模组的运行数据发送至所述上位机,以供所述上位机根据所述运行数据对所述被测模组进行测试。

2.根据权利要求1所述的模组测试系统,其特征在于,所述测试模组中预先安装有调制解调器主机接口MHI驱动;

所述测试模组具体用于根据所述测试指令,加载所述MHI驱动,以控制所述被测模组开始运行。

3.根据权利要求2所述的模组测试系统,其特征在于,所述测试模组还用于在加载所述MHI驱动后,控制所述被测模组进入睡眠状态,以获取在所述睡眠状态下所述被测模组的状态信息,并将所述状态信息发送至所述上位机,以供所述上位机根据所述状态信息对所述被测模组进行睡眠耗流测试。

4.根据权利要求1所述的模组测试系统,其特征在于,所述测试指令中包括所述上位机的标识信息,所述标识信息用于指示所述被测模组的目标枚举时序;

所述系统还包括分别与所述测试模组和所述被测模组连接的模组电路,所述模组电路集成在EVB板上,所述模组电路用于控制所述被测模组的枚举时序;

所述测试模组用于根据所述上位机的标识信息,通过所述模组电路控制所述被测模组根据所述目标枚举时序运行。

5.根据权利要求1所述的模组测试系统,其特征在于,所述系统还包括供电电路,所述供电电路分别与所述测试模组和所述上位机连接;

所述供电电路用于在接收到所述上位机的供电指令后,为所述测试模组供电。

6.根据权利要求5所述的模组测试系统,其特征在于,所述系统还包括管脚电路,所述管脚电路分别与所述供电电路和所述被测模组连接,所述供电电路还用于为所述被测模组供电。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的模组测试系统,其特征在于,所述测试模组为USB模组,所述测试模组通过所述上位机的USB接口与所述上位机连接。

8.一种模组测试方法,其特征在于,应用于测试模组,所述方法包括:

接收上位机发送的测试指令;其中,所述测试模组通过所述上位机的外部接口与所述上位机连接;

根据所述测试指令,控制与所述测试模组连接的被测模组开始运行,并获取所述被测模组的运行数据;所述被测模组包括PCIe模组;

将所述被测模组的运行数据发送至所述上位机,以供所述上位机根据所述运行数据对所述被测模组进行测试。

9.一种电子设备,其特征在于,包括:

至少一个处理器;以及,

与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求8所述的模组测试方法。

10.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求8所述的模组测试方法。

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