[发明专利]基于相控阵引导的干涉仪测向方法及系统

权利要求书

1.一种基于相控阵引导的干涉仪测向方法，其特征在于，包括步骤：

在干涉仪天线阵布置窄波束相控阵；

当辐射源以相对天线阵法向θ角度从远场投射信号且辐射源位于窄波束相控阵天线A₁当前扫描的波束内时，天线阵的所有天线接收到辐射源信号；

利用窄波束相控阵的波束扫描特性约束辐射源信号的来波方向，进而约束干涉仪测向算法需要遍历的最长基线无模糊相位周期范围；此时，根据比相器输出的各基线的相位差、窄波束相控阵当前的扫描角度、以及已部署的相控阵基线信息作为测向算法的输入，通过计算处理后输出测向结果，从而完成干涉仪测向。

2.根据权利要求1所述的基于相控阵引导的干涉仪测向方法，其特征在于，所述在干涉仪天线阵布置窄波束相控阵，包括子步骤：

按照A₁A₂、A₂A₃、…、A_N-1A_N基线长度分别为d₁、d₂、…、d_N-1的基线配置以线阵形式布置干涉仪系统的天线阵；干涉仪系统上电，所有天线及对应射频通道完成相位校正。

3.根据权利要求2所述的基于相控阵引导的干涉仪测向方法，其特征在于，所有天线接收到来自辐射源的远场投射信号时，包括步骤：

记录此时窄波束相控阵天线A₁的波束扫描角度以及记录此时基础基线A₁A₂、A₂A₃、…、A_N-1A_N的有模糊相位差φ₁、φ₂、…、φ_N-1；

再将基础基线A₁A₂、A₂A₃、…、A_N-1A_N扩展出虚拟基线A₁A₃、A₂A₄、…、A_N-2A_N、A₁A₄、A₂A₅、…、A_N-3A_N…、A₁A_N，此时基线全集为{A₁A₂、A₂A₃、…、A_N-1A_N、A₁A₃、A₂A₄、…、A_N-2A_N、A₁A₄、A₂A₅、…、A_N-3A_N…、A₁A_N}，根据基线配置和基础基线的有模糊相位差计算所有基线的基线长度{D₁,D₂,…,D_end}和有模糊相位差根据天线基线的配置方法，此基线长度和基线相位差的排序与基线全集{A₁A₂、A₂A₃、…、A_N-1A_N、A₁A₃、A₂A₄、…、A_N-2A_N、A₁A₄、A₂A₅、…、A_N-3A_N…、A₁A_N}的排序一致。