[发明专利]一种X荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法在审
申请号: | 202211553760.6 | 申请日: | 2022-12-06 |
公开(公告)号: | CN116046734A | 公开(公告)日: | 2023-05-02 |
发明(设计)人: | 杨永明;袁翠宏;吕志文;张庆明;赵晓飞;贾凌宇;张洪伟 | 申请(专利权)人: | 中核北方核燃料元件有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 程然 |
地址: | 014035 内蒙古*** | 国省代码: | 内蒙古;15 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 荧光 光谱 测定 氧化 铀中铀 含量 快速 检测 方法 | ||
1.一种X荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1:样品压片;
步骤2:标准曲线绘制;
步骤3:测定;
步骤4:计算。
2.如权利要求1所述的一种X荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于:所述的步骤1为采用淀粉或硼酸作为粘合剂,在20t~25t压力下,压制20s~40s,制备得到X荧光分析用样品。
3.如权利要求1所述的一种X荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于:所述的步骤2为根据铀的特征谱线,选用Lα,Lβ任意一个分析线检测。
4.如权利要求3所述的一种X荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于:所述的步骤2为使用八氧化三铀、二氧化铀标准物质粉末,压片制备系列工作标准,在X荧光光谱仪上绘制标准曲线。
5.如权利要求1所述的一种X荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于:所述的步骤3中的测试条件包括钼的分析线U-Lα、U-Lβ,仪器中应用方法建立时,采用仪器推荐的α系数对共存元素干扰进行校正。
6.如权利要求5所述的一种X荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于:所述的步骤3中测试条件见表2,
表2X射线光谱仪测量条件
7.如权利要求1所述的一种X荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于:所述的步骤4中按仪器工作条件和测定程序,在X荧光光谱仪上录入样品信息,校正曲线,依次测定待测样品,在“结果”中导出测定结果ω。
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