[发明专利]补偿参数的确定方法和装置、补偿方法、设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202211559594.0 申请日: 2022-12-06
公开(公告)号: CN116030759A 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 谭文静;金台镇;魏巍;卞胜赞 申请(专利权)人: 北京奕斯伟计算技术股份有限公司
主分类号: G09G3/3208 分类号: G09G3/3208;G09G3/20
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 罗莎;王晓晗
地址: 101102 北京市北京经济技*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 补偿 参数 确定 方法 装置 设备 存储 介质
【说明书】:

一种补偿参数的确定方法、补偿方法、补偿参数的确定装置、电子设备和计算机可读存储介质。该补偿参数的确定方法应用于显示面板,该显示面板包括阵列排布的M个子像素,该补偿参数的确定方法包括:获取该M个子像素分别对应的M个第一亮度向量;基于该M个第一亮度向量,进行合并操作,以得到关于该M个子像素的K个第一补偿参数;基于该K个第一补偿参数,确定该显示面板的多个第二补偿参数;其中,M为大于1的整数,K为小于M的正整数,该多个第二补偿参数的数量小于M。该方法可以利用合并操作,使得补偿参数的数量减少为小于子像素的数量,实现一定程度的数据压缩,进而减少补偿所需的计算量和存储量。

技术领域

本公开的实施例涉及一种补偿参数的确定方法、补偿方法、补偿参数的确定装置、电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

由于驱动晶体管(D-TFT)的阈值电压(Vth)和迁移率的差异,以及生产过程中其他工艺段的差异,可能导致OLED(organic light emitting diode)显示屏的显示不均(Mura),因此,需要对显示屏进行均匀性补偿。

发明内容

本公开至少一个实施例提供一种补偿参数的确定方法,应用于显示面板,其中,所述显示面板包括阵列排布的M个子像素,所述方法包括:获取所述M个子像素分别对应的M个第一亮度向量;基于所述M个第一亮度向量,进行合并操作,以得到关于所述M个子像素的K个第一补偿参数;基于所述K个第一补偿参数,确定所述显示面板的多个第二补偿参数;其中,M为大于1的整数,K为小于M的正整数,所述多个第二补偿参数的数量小于M。

例如,在本公开一实施例提供的确定方法中,所述M个子像素中的每个子像素对应的第一亮度向量包括所述每个子像素分别在N个灰阶下的N个显示亮度。

例如,在本公开一实施例提供的确定方法中,所述K个第一补偿参数各不相等;所述K个第一补偿参数中的每个第一补偿参数对应所述M个子像素中的至少一个子像素。

例如,在本公开一实施例提供的确定方法中,所述合并操作包括第一合并操作;基于所述M个第一亮度向量,进行合并操作,以得到关于所述M个子像素的K个第一补偿参数,包括:基于所述M个第一亮度向量,计算得到M个向量模长;对所述M个向量模长进行所述第一合并操作,以将所述M个向量模长合并为P个向量模长;基于所述P个向量模长,确定P个第二亮度向量,其中,所述P个第二亮度向量中的每个对应所述M个子像素中的至少一个子像素;基于所述P个第二亮度向量,生成所述K个第一补偿参数;其中,P为小于M的正整数。

例如,在本公开一实施例提供的确定方法中,所述P个向量模长的数值各不相等。

例如,在本公开一实施例提供的确定方法中,对所述M个向量模长进行所述第一合并操作,以将M个向量模长合并为P个向量模长,包括:对所述M个向量模长进行频次统计,以确定所述M个向量模长中数值各不相同的Q个向量模长以及所述Q个向量模长分别对应的频次,其中,Q为小于M的正整数;基于所述Q个向量模长的数值,对所述Q个向量模长进行排序,以得到第一序列;基于第一频次阈值,对所述第一序列中的所述Q个向量模长进行所述第一合并操作,以得到所述P个向量模长。

例如,在本公开一实施例提供的确定方法中,所述第一合并操作包括第一子合并操作;对所述第一序列中的所述Q个向量模长进行所述第一合并操作,包括:对所述Q个向量模长执行至少一次所述第一子合并操作并更新所述第一序列,直至更新后的第一序列包含的向量模长的数量不大于第一数量阈值,其中,所述P个向量模长包括最后一次第一子合并操作得到的更新后的第一序列包括的向量模长。

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