[发明专利]多路比较器以及多路比较方法

说明书

本公开提供了一种多路比较器，应用于集成电路技术领域，包括：翻转阈值提取电路，用于提取采样翻转电压阈值，阈值反馈调节电路，与该翻转阈值提取电路相连，用于将该采样翻转电压阈值调节为预设翻转电压阈值，多路比较输出电路，与该阈值反馈调节电路相连，用于通过镜像该采样翻转电压阈值，使多路比较器的电压阈值为预设翻转电压阈值，以及，将输入该多路比较输出电路的输入电压与该电压阈值进行比较。本公开还提供了一种多路比较方法。

技术领域

本公开涉及比较器技术领域，尤其涉及一种多路比较器以及多路比较方法。

背景技术

随着集成电路技术的不断发展，对功耗面积等有着更低更小的需求。在多路信号比较场合，通常使用基于运算放大器构成的比较器并联从而实现多路信号的比较，但其结构复杂，电路复用程度低，电路规模大，功耗高，不利于电路系统的低功耗、高集成发展。

发明内容

本公开的主要目的在于提供一种多路比较器以及多路比较方法，结构简单，集成度高。

为实现上述目的，本公开实施例第一方面提供一种多路比较器，包括：

翻转阈值提取电路，用于提取采样翻转电压阈值；

阈值反馈调节电路，与所述翻转阈值提取电路相连，用于将所述采样翻转电压阈值调节为预设翻转电压阈值；

多路比较输出电路，与所述阈值反馈调节电路相连，用于通过镜像所述采样翻转电压阈值，使所述多路比较器的电压阈值为所述预设翻转电压阈值，以及，将输入所述多路比较输出电路的输入电压与所述电压阈值进行比较。

在本公开一实施例中，所述翻转阈值提取电路包括：

第一晶极管M1，所述第一晶极管M1的栅极与所述阈值反馈调节电路的第一端相连，所述第一晶极管M1的源极接地；

第二晶极管M2，所述第二晶极管M2的源极与所述第一晶极管M1的漏极相连，所述第二晶极管M2的栅极与所述第二晶极管M2的漏极相连；

第三晶极管M3，所述第三晶极管M3的栅极与所述第三晶极管M3的漏极相连，所述第二晶极管M2的栅极与所述第三晶极管M3的栅极相连，所述第二晶极管M2的漏极与所述第三晶极管M3的漏极相连；

第四晶极管M4，所述第四晶极管M4的栅极与所述阈值反馈调节电路的第二端相连，所述第四晶极管M4的漏极与所述第三晶极管M3的源级相连，所述第四晶极管M4的源级连接漏极电源电压。

在本公开一实施例中，所述第一晶极管M1和所述第二晶极管M2为NMOS管，所述第三晶极管M3和所述第四晶极管M4为PMOS管。

在本公开一实施例中，所述阈值反馈调节电路包括：

运算放大器，所述运算放大器的同相输入端连接所述预设翻转电压阈值，所述运算放大器的反相输入端连接所述第二晶极管M2与所述第三晶极管M3的栅极，所述运算放大器的输出端与所述第一晶极管M1的栅极、所述第四晶极管M4的栅极以及所述多路比较输出电路相连。

在本公开一实施例中，所述多路比较输出电路包括多个并联的单路比较输出电路，所述单路比较输出电路包括：

第五晶极管M5，所述第五晶极管M5的栅极与所述阈值反馈调节电路的第一端相连，所述第五晶极管M5的源极接地；

第六晶极管M6，所述第六晶极管M6的源极与所述第五晶极管M5的漏极相连，所述第六晶极管M6的栅极与第七晶极管M7的栅极以及所述输入电压相连，所述第六晶极管M6的漏极与所述第七晶极管M7的漏极以及输出电压相连；

所述第七晶极管M7，所述第七晶极管M7的源极与第八晶极管M8的漏极相连；