[发明专利]一种热电材料Seebeck系数测试探头

说明书

本发明涉及Seebeck系数测试探头技术领域，且公开了一种热电材料Seebeck系数测试探头，包括底板，所述底板的顶部固定连接有伸缩杆，伸缩杆的尺寸与底板到定位块之间的距离相适配，所述伸缩杆远离底板的一端固定连接有定位块，定位块远离伸缩杆一端的内部开设有尺寸与显示屏相适配的通孔；该热电材料Seebeck系数测试探头能实现通过伸缩件的伸展或者收缩，从而促使与伸缩件固定连接的连杆铰接点在卡块内部开设的通孔内运动，此时与连杆另一端铰接的固定件会在连杆的作用下，以与限定件铰接点为支点摆动，固定件远离限定件一端会在此作用下展开，从而调整金属探头应用的范围，达到便捷调整探测范围以适应不同种类合金的目的。

技术领域

本发明涉及Seebeck系数测试探头技术领域，具体为一种热电材料Seebeck系数测试探头。

背景技术

Seebeck系数测试一般使用热电偶作为探针，用来测量接触点温度和电势差，在使用时需要将一端加热来形成温差以便于测量，合金的连接处温差与测量的位置有一定的关联，对于不同位置进行测量所得到的系数也不相同，导致不同的合金需要用不同的设备来测量，过于繁杂。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种热电材料Seebeck系数测试探头，具备便捷测量合金不同位置的温度差别、多点测量合金的温度以便数据更加准确以及适应不同种类的合金测量的优点，解决了在进行合金温度测量时不同位置的温度有所不同、单点测量合金的温度不够准确以及不同种类的合金需要使用不同的设备来进行测量过于繁杂的问题。

(二)技术方案

为实现上述便捷测量合金不同位置的温度差别、多点测量合金的温度以便数据更加准确以及适应不同种类的合金测量的目的，本发明提供如下技术方案：一种热电材料Seebeck系数测试探头，包括底板和限定件，限定件内部开设有尺寸与固定件相适配的凹槽，所述底板的顶部固定连接有伸缩杆，伸缩杆的尺寸与底板到定位块之间的距离相适配，所述伸缩杆远离底板的一端固定连接有定位块，定位块远离伸缩杆一端的内部开设有尺寸与显示屏相适配的通孔，所述定位块远离伸缩杆一端的顶部固定连接有显示屏，显示屏显示两端所得的温度差，所述显示屏的两侧固定连接有两个呈轴对称的导电线，导电线连接金属探头与显示屏，导电线将金属探头所测得的温度传输至显示屏内部，两个相向的所述导电线远离显示屏一端的外侧套接有两个相向的限位块，限位块内部开设有尺寸与导电线相适配的圆孔，限位块远离导电线一端与外壳固定连接，所述限定件底端的内部固定连接有卡块，卡块内部开设有尺寸与连杆连接点相适配的通孔，卡块内部开设的通孔尺寸与伸缩件的长度相适配，所述卡块远离限定件一端的两侧插接有两个相向的连杆，两个连杆相互铰接，两个相向的连杆的连接位置固定连接有伸缩件，伸缩件的长度与卡块内部开设的通孔相适配，所述连杆远离伸缩件一端铰接有两个轴对称的固定件，固定件内部开设有尺寸与从动件相适配的凹槽。

优选的，所述连杆远离固定件一端插接在卡块内部，所述伸缩件远离连杆一端与卡块内部固定连接，所述固定件与限定件内部铰接。

优选的，所述金属探头的外侧固定连接有数个呈中心对称的连接件，连接件远离金属探头一端与外壳铰接，所述连接件远离金属探头一端的外侧铰接有两个相向的外壳，外壳内部开设有尺寸与活塞直径相适配的通孔，外壳远离连接件一端与固定件固定连接，所述外壳靠近连接件一端的内部卡接有活塞，活塞直径与外壳内部开设的通孔相适配。

优选的，所述活塞的顶部固定连接有从动杆，从动杆顶部开设有尺寸与从动件相适配的圆孔，从动杆直径与柱状体内部开设的通孔相适配，所述从动杆靠近活塞一端的外侧设置有弹簧，弹簧设置在外壳内部，弹簧尺寸与从动杆的直径相适配。

优选的，所述从动杆远离弹簧一端的外侧套接有柱状体，柱状体外侧尺寸与外壳内部开设的通孔相适配，柱状体内部开设有尺寸与从动杆相适配的通孔，所述从动杆远离弹簧一端铰接有从动件，从动件一端与从动杆铰接，另一端与固定件的内壁铰接。