[发明专利]一种快速淬灭与复位电路在审

专利信息
申请号: 202211586119.2 申请日: 2022-12-09
公开(公告)号: CN116026456A 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 王明富;刘光林;金峥;冯志辉;刘博;周向东 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01J1/44 分类号: G01J1/44;H03K17/22
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 邓治平
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 快速 复位 电路
【权利要求书】:

1.一种快速淬灭与复位电路,其特征在于:所述电路包括高侧淬灭子电路,高侧复位子电路,低侧淬灭子电路,低侧复位子电路,雪崩二极管D1,采样电阻R1,高压供电电源;

所述雪崩二极管D1的阴极引入所述高侧淬灭子电路;

所述高侧淬灭子电路包括:交流耦合电容C2,保护二极管D2和D3,限流电阻R4,R5和R6,推挽输出晶体管Q2和Q3,上拉电阻R7以及电平转换晶体管Q4,第一淬灭供电电源;所述推挽输出晶体管Q2和电平转换晶体管Q4为NPN型射频晶体管,推挽输出晶体管Q3为PNP型射频晶体管;

所述雪崩二极管D1的阳极引入低侧淬灭子电路;

所述低侧淬灭子电路包括:交流耦合电容C3,限流电阻R8,上拉电阻R9,晶体管Q5,保护二极管D4和D5,第二淬灭供电电源;所述晶体管Q5为PNP型射频晶体管。

2.根据权利要求1所述的一种快速淬灭与复位电路,其特征在于:所述雪崩二极管D1的阴极引入高侧复位子电路;

所述高侧复位子电路包括:偏置电阻R2和R3,交流耦合电容C1,晶体管Q1;所述晶体管Q1为PNP型射频晶体管。

3.根据权利要求1所述的一种快速淬灭与复位电路,其特征在于:所述雪崩二极管D1的阳极引入了低侧复位子电路;

所述低侧复位子电路包括:雪崩二极管D1,采样电阻R1,晶体管Q6;所述晶体管Q6为NPN型射频晶体管。

4.根据权利要求1所述的一种快速淬灭与复位电路,其特征在于:所述高侧淬灭子电路、低侧淬灭子电路被配置为同时有效,且持续时间一致,对雪崩二极管D1阴极和阳极同时淬灭;淬灭结束后低侧复位子电路立即置为有效,对雪崩二极管D1的阳极进行复位;低侧复位结束后,高侧复位子电路立即置为有效,雪崩二极管D1阴极复位到高压供电电源电压,雪崩二极管D1准备好进行下一次雪崩激发。

5.根据权利要求1所述的一种快速淬灭与复位电路,其特征在于:所述高侧淬灭子电路中,所述电平转换晶体管Q4的基极为高侧淬灭控制端口,射极与信号地相连,集电极与所述上拉电阻R7的第二端相连;所述上拉电阻R7的第一端与限流电阻R4的第二端相连,所述限流电阻R4的第一端与所述第一淬灭供电电源输出端相连;所述推挽输出晶体管Q2的集电极与所述限流电阻R4的第二端相连,基极与所述限流电阻R4第二端相连,射极与限流电阻R5的第一端相连;所述推挽输出晶体管Q3的射极与所述限流电阻R6的第二端相连,基极与所述上拉电阻R7的第二端相连,集电极与信号地相连;所述限流电阻R5的第二端与所述限流电阻R6的第一端相连;所述保护二极管D2的阳极与保护二极管D3的阴极相连,所述保护二极管D2的阴极与限流电阻R4的第二端相连;所述保护二极管D3的阳极与信号地相连;所述交流耦合电容C2的第二端与所述保护二极管D2的阳极相连;所述交流耦合电容C2的第一端与所述雪崩二极管D1的阴极相连。

6.根据权利要求2所述的一种快速淬灭与复位电路,其特征在于:所述高侧复位子电路中,所述交流耦合电容C1的第一端为高侧复位子电路的控制端口;所述交流耦合电容C2的第一端与所述偏置电阻R2的第二端相连,所述偏置电阻R2的第一端与所述晶体管Q1的射极相连;所述偏置电阻R3的第一端与所述交流耦合电容的第一端相连,所述偏置电阻R3的第二端与所述晶体管Q1的集电极相连;所述晶体管Q1的射极与所述高压供电电源输出端相连,集电极与雪崩二极管D1的阴极相连,基极与所述交流耦合电容C1的第二端相连。

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