[发明专利]一种利用XRD快速检测偏高岭土活性的方法

权利要求书

1.一种利用XRD快速检测偏高岭土活性的方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)将偏高岭土样品放入X射线衍射仪中，进行XRD慢扫；

2)将XRD衍射仪测得的数据导入XRD分析软件，寻峰、扣背底，获得寻峰数据；

3)根据所得寻峰数据，计算衍射峰高与相应半峰宽的比值R；

4)对R值为1000以下的所有衍射峰面积进行求和计算，得衍射峰面积∑S_衍射峰；

5)采用上述相同检测和分析条件，计算不同偏高岭土粉末的衍射峰面积∑S_衍射峰，根据∑S_衍射峰的数值高低，评价不同偏高岭土粉末的活性高低情况。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤3)中所述XRD慢扫速率为0.02-0.05°/step，扫描范围5-70°。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤4)中所述寻峰步骤中，寻峰参数中的Points变量设置为9-13。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述评价过程中，∑S_衍射峰数值高的偏高岭土粉末，其活性更高。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述偏高岭土粉末以高岭土为原料，在600-900℃下进行煅烧处理得到。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述偏高岭土样品通过将偏高岭土粉与水按比例混和，磨细，干燥，加入样品槽中装样得到。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，磨细，干燥后将偏高岭土粉的粒径为6.5um以下。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，装样步骤包括：将磨细，干燥后的偏高岭土粉倒入XRD衍射仪样品架中，将样品架放在振荡器上振荡，使其均匀平铺在样品架中的样品槽中，用玻璃片压平。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，单位体积样品槽内铺设的偏高岭土粉的质量为0.5-0.6mg/mm³。