[发明专利]稀疏参数的获取方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种稀疏参数的获取方法，其特征在于，被电子设备执行，所述电子设备包括：中央处理器CPU以及图形处理器GPU，所述图形处理器GPU包括：多个初始稀疏参数，所述方法包括：

获取待处理稀疏特征的待处理存储编号，其中，所述待处理存储编号表示所述待处理稀疏特征在所述中央处理器CPU中的存储位置；

根据所述待处理存储编号，从所述多个初始稀疏参数中确定目标稀疏参数。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取待处理稀疏特征的待处理存储编号之前，所述方法还包括：

获取所述多个初始稀疏参数，其中，不同所述初始稀疏参数具有对应的第一排列次序；

根据所述第一排列次序，生成与相应所述初始稀疏参数对应的第一存储编号；

将所述多个初始稀疏参数和分别与其对应的多个第一存储编号，关联存储至所述图形处理器GPU。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述获取待处理稀疏特征的待处理存储编号之前，所述方法还包括：

获取多个所述初始稀疏特征，其中，不同所述初始稀疏特征具有对应的第二排列次序；

根据所述第二排列次序，生成与所述初始稀疏特征对应的第二存储编号；

将所述多个初始稀疏特征和分别与其对应的多个第二存储编号，关联存储至所述中央处理器CPU。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取待处理稀疏特征的待处理存储编号，包括：

将所述中央处理器CPU中与所述待处理稀疏特征关联的所述第二存储编号确定为所述待处理存储编号。

5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，不同所述初始稀疏特征所对应的所述初始稀疏参数的参数数量相同；

其中，所述根据所述待处理存储编号，从所述多个初始稀疏参数中确定目标稀疏参数，包括：

确定一个所述初始稀疏特征所对应的所述初始稀疏参数的参数数量；

根据所述待处理存储编号和所述参数数量，从所述多个初始稀疏参数中确定所述目标稀疏参数。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述待处理存储编号和所述参数数量，从所述多个初始稀疏参数中确定所述目标稀疏参数，包括：

根据所述参数数量和所述待处理存储编号，确定目标存储编号；

根据所述目标存储编号和所述参数数量，从所述多个初始稀疏参数中确定所述目标稀疏参数。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述参数数量和所述待处理存储编号，确定目标存储编号，包括：

将所述参数数量和所述待处理存储编号的乘积作为所述目标存储编号。

8.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标存储编号和所述参数数量，从所述多个初始稀疏参数中确定所述目标稀疏参数，包括：

根据所述目标存储编号和所述参数数量，确定目标调用编号，其中，所述目标调用编号表示所述目标稀疏参数在所述图形处理器GPU的存储位置；

将所述图形处理器GPU中与所述目标调用编号关联的所述初始稀疏参数确定为所述目标稀疏参数。

9.一种稀疏参数的获取装置，其特征在于，所述装置包括：

第一获取模块，用于获取待处理稀疏特征的待处理存储编号，其中，所述待处理存储编号表示所述待处理稀疏特征在所述中央处理器CPU中的存储位置；

确定模块，用于根据所述待处理存储编号，从所述多个初始稀疏参数中确定目标稀疏参数。