[发明专利]一种TDICCD传感器图像的实验室绝对辐射系数解算方法

权利要求书

1.一种TDICCD传感器图像的实验室绝对辐射系数解算方法，其特征在于，所述方法具体为：通过分析TDICCD传感器的光电信号处理原理，推导出传感器记录的DN值与入瞳辐亮度和成像参数中的辐亮度、行转移时间、增益、积分级数的定量关系公式，同时利用少量辐射实验数据拟合的方式求得定量关系公式中的常量，最终可以求解出任意行转移时间、积分级数、增益的实验室绝对辐射系数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对TDICCD传感器光电信号处理模型进行建模，建立DN值和入瞳辐亮度和各成像参数的定量关系公式；

当光线照射到传感器的焦平面上，传感器将光信号转换为电信号，输出模拟电压信号，模拟电压信号经过相关双采样处理后获得有效的模拟电压信号，将有效的模拟电压信号值与钳位电压值经过减法器相减后的结果经过增益放大器被放大后，通过模数转换器进行模数转换，最后输出数字信号。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，传感器焦平面处的辐照量为：

式中L为传感器的入瞳辐亮度，F为光学系统的相对孔径，τ₀为光学系统的总透射率，T为传感器的行转移时间。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，经过光电转换后的输出模拟电压为：

式中S为传感器的积分级数，μ_cce为传感器的电荷转换因子，λ为波长，η为量子效率，A为像元面积，h为普朗克常数，c为光速。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，经过减法器后的电压值为：

V＝V_s-V_set   (3)

式中V_set为可设定的动态钳位电压值。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，传感器输出的DN值为：

式中G为模拟增益，V_sat为模数转换器的饱和电压值，q为量化位数。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，整合公式(1)～(4)，得到DN值与入瞳辐亮度L、行转移时间T、积分级数S、增益G的定量关系：

DN＝G×(T×L×S×m+n)   (5)

其中，

将公式(5)变形处理，得到：

即以图像DN值为横坐标，入瞳辐亮度为纵坐标进行直线拟合得到的斜率k和截距b，即绝对辐射系数，用如下关系式来表示：

根据以上公式即可得到绝对辐射系数与增益、积分级数、行转移时间的定量关系。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述利用少量辐射实验数据拟合的方式求得定量关系公式中的常量，具体为：对公式(5)进行变形，得到如下关系：

即以T×L×S的结果为横坐标，以DN/G的结果为纵坐标进行拟合，拟合得到的直线斜率为参数m，直线截距为参数n。

9.一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-8任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，用于存储计算机指令，其特征在于，所述计算机指令被处理器执行时实现权利要求1-8任一项所述方法的步骤。