[发明专利]一种数据库分级校验方法、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202211599513.X | 申请日: | 2022-12-12 |
公开(公告)号: | CN115982124A | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
发明(设计)人: | 陈栋;魏兴华;李建辉;张文件;罗春;李春;吴炎;臧冰凌 | 申请(专利权)人: | 杭州沃趣科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F16/21 | 分类号: | G06F16/21;G06F16/27 |
代理公司: | 北京锺维联合知识产权代理有限公司 11579 | 代理人: | 安娜 |
地址: | 310052 浙江省杭州市滨江区长河街道滨*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数据库 分级 校验 方法 电子设备 存储 介质 | ||
本发明提供了一种数据库分级校验方法、电子设备及存储介质,该方法包括:根据数据库校验指令,获取第一数据库的数据信息和第二数据库的数据信息;对第一数据库和第二数据库进行对象校验;若对象校验结果为第一数据库和第二数据库的对象一致,则对第一数据库和第二数据库进行数据表校验,并输出数据表校验结果。本发明采用分级校验的方式,对第一数据库和第二数据库的数据信息进行同步校验,以其中一个数据库为基准,比较两个数据库之间的数据差异,对第一数据库和第二数据库进行对象校验和数据表校验,当发现其中一项信息存在差异时,直接输出同步未通过的校验结果,无需进行下一步的校验操作,缩短了两个数据库的同步校验的时间。
技术领域
本发明涉及数据库校验领域,特别是涉及一种数据库分级校验方法、电子设备及存储介质。
背景技术
在数据库进行数据同步后,需要对同步的数据库进行校验,以检验其是否已同步成功,现有的数据库同步校验方法大多为多个参数同时进行校验,且校验的参数过于单一,由此得到的校验结果精度较低。
发明内容
针对上述技术问题,本发明采用的技术方案为:
根据本申请的一个方面,提供一种数据库分级校验方法,应用于数据库校验系统,数据库校验系统连接有若干个目标数据库,每个目标数据库中包括若干个目标数据表;每个目标数据库所在的服务器均不同;
所述数据库分级校验方法,包括如下步骤:
S100、响应于数据库校验指令,数据库校验指令包括第一数据库的信息调取指令和第二数据库的信息调取指令;第一数据库和第二数据库为从若干个目标数据库中确定的;
S200、根据数据库校验指令,获取第一数据库的数据信息和第二数据库的数据信息;
S300、根据第一数据库的数据信息和第二数据库的数据信息,对第一数据库和第二数据库进行对象校验;若对象校验结果为第一数据库和第二数据库的对象一致,则执行步骤S400;否则,输出对象校验结果;
S400、对第一数据库和第二数据库进行数据表校验,并输出数据表校验结果。
在本申请的一种示例性实施例中,步骤S300,包括:
S311、若第一数据库和第二数据库为同构数据库,则执行步骤S312;
S312、获取第一数据库的对象及对象属性信息;
S313、获取第二数据库的对象及对象属性信息;
S314、判断第一数据库的对象和第二数据库的对象是否相同;若第一数据库的对象和第二数据库的对象相同,则执行步骤S315;否则,输出对象校验不通过;
S315、判断第一数据库的对象属性信息和第二数据库的对象属性信息是否相同;若第一数据库的对象属性信息和第二数据库的对象属性信息相同,则执行步骤S400;否则,输出对象校验不通过。
在本申请的一种示例性实施例中,步骤S400,包括:
S411、遍历第一数据库和第二数据库中所有目标数据表;若H1=H2,则执行步骤S412;否则,输出数据表校验不通过;其中,H1为第一数据表的数据行数量;H2为第二数据表的数据行数量;第一数据表为第一数据库中任一目标数据表;第二数据表为第二数据库中与第一数据表名称相同的目标数据表;
S412、若I1=I2,则输出数据表校验通过;否则,输出数据表校验不通过;其中,I1为第一数据表的哈希值;I2为第二数据表的哈希值。
在本申请的一种示例性实施例中,步骤S315,包括:
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