[发明专利]光学检测装置、检测方法及装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种光学检测装置，其特征在于，包括：

检测工位，被配置用于放置待检测的目标工件；

第一图像采集装置，被配置用于沿第一方向获取所述目标工件的图像，

第二图像采集装置，被配置用于沿第二方向获取所述目标工件的图像，以及

检测光源，被配置用于为所述第一图像采集装置和所述第二图像采集装置提供检测光；

传送装置，被配置用于将所述目标工件移入或移出所述检测工位；

其中，所述第一方向与所述第二方向不同，所述检测光源提供的至少部分检测光的光轴与所述第一图像采集装置的光轴为同轴设置。

2.根据权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述检测光源包括第一子光源和第二子光源，所述第一子光源被配置为提供与所述第一图像采集装置的光轴同轴的检测光，所述第二子光源被配置用于提供射向所述目标工件侧面的检测光。

3.根据权利要求2所述的光学检测装置，其特征在于，所述第一子光源设有出光口，所述第二子光源位于所述第一子光源设有出光口的一侧，且所述第二子光源设有透光孔，所述透光孔与所述第一子光源的出光口对应设置以允许所述第一子光源发出的检测光通过。

4.根据权利要求3所述的光学检测装置，其特征在于，所述第二子光源包括：

端盖，固定连接于所述第一子光源设有出光口的一侧，所述端盖上设有所述透光孔；

发光元件，固设于所述端盖远离所述第一子光源的一侧表面，所述发光元件位于所述透光孔的外围。

5.根据权利要求2所述的光学检测装置，其特征在于，所述检测工位包括间隔设置的第一检测工位和第二检测工位，所述第一图像采集装置和所述第一子光源位于所述第一检测工位上方，以获取位于所述第一检测工位上的目标工件的图像；所述第二图像采集装置和所述第二子光源围绕所述第二检测工位设置，以获取位于所述第二检测工位上的目标工件的图像。

6.根据权利要求2所述的光学检测装置，其特征在于，所述光学检测装置包括多个所述第二图像采集装置，多个所述第二图像采集装置围绕所述检测工位间隔设置。

7.根据权利要求6所述的光学检测装置，其特征在于，所述第二子光源包括与所述第二图像采集装置一一对应并间隔设置的多个条形光源。

8.根据权利要求2至6中任一项所述的光学检测装置，其特征在于，所述第二子光源为环形光源，所述环形光源的直径大于预设直径。

9.根据权利要求1至7中任一项所述的光学检测装置，其特征在于，所述第一图像采集装置的光轴垂直于所述检测工位所在平面。

10.根据权利要求1至7中任一项所述的光学检测装置，其特征在于，所述第二图像采集装置的光轴与所述检测工位所在平面之间的安装角可调，且所述安装角大于或等于10°且小于或等于45°。

11.根据权利要求1至7中任一项所述的光学检测装置，其特征在于，所述光学检测装置还包括：

3D相机，被配置用于获取所述目标工件的3D图像。

12.一种电芯极柱的检测方法，其特征在于，包括：

利用权利要求1至11中任一项所述光学检测装置获取电芯极柱的图像；

对所述图像进行识别，确定所述图像中的缺陷参数；

基于所述缺陷参数，确定所述电芯极柱的检测结果。

13.根据权利要求12所述的电芯极柱的检测方法，其特征在于，所述对所述图像进行识别，确定所述图像中的缺陷参数包括：

定位所述图像中电芯极柱的位置；

将所述图像中的电芯极柱的缺陷区域的像素分割出来得到缺陷图像；

基于所述缺陷图像确定缺陷参数，所述缺陷参数包括缺陷类型、缺陷尺寸、缺陷灰度值中的至少一种。