[发明专利]一种双腔MEMS碱金属气室及其制备方法在审
申请号: | 202211604516.8 | 申请日: | 2022-12-13 |
公开(公告)号: | CN116022723A | 公开(公告)日: | 2023-04-28 |
发明(设计)人: | 赵立波;王延斌;秦广照;于明智;陈瑶;张赟;马银涛;路舜;郭举;杨萍;林启敬;王建鲁;张南;蒋庄德 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学;明石创新(烟台)微纳传感技术研究院有限公司;山东明石微纳技术研究院 |
主分类号: | B81B7/02 | 分类号: | B81B7/02;B81C1/00;B81C3/00 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 张宇鸽 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 mems 碱金属 及其 制备 方法 | ||
1.一种双腔MEMS碱金属气室,其特征在于,包括P型(100)晶面双面抛光硅片(1)和第一玻璃片(2-1)和第二玻璃片(2-2),P型(100)晶面双面抛光硅片(1)上设有工作腔室(3)、辅助腔室(5)以及将工作腔室(3)和辅助腔室(5)相互连通的连接通道(4),第一玻璃片(2-1)和第二玻璃片(2-2)分别键合于P型(100)晶面双面抛光硅片(1)的背面和正面并将工作腔室(3)、辅助腔室(5)和连接通道(4)密封,工作腔室(3)、辅助腔室(5)、连接通道(4)表面、第一玻璃片(2-1)上与工作腔室(3)和辅助腔室(5)对应的区域以及第二玻璃片(2-2)上与工作腔室(3)、辅助腔室(5)和连接通道(4)对应的区域表面均设有HF型派瑞林薄膜(12);辅助腔室(5)内设有碱金属化学反应物(6),工作腔室(3)、辅助腔室(5)和连接通道(4)内填充有保护气体。
2.根据权利要求1所述的一种双腔MEMS碱金属气室,其特征在于,所述工作腔室(3)和辅助腔室(5)在P型(100)晶面双面抛光硅片(1)的厚度方向贯穿P型(100)晶面双面抛光硅片(1),连接通道(4)在P型(100)晶面双面抛光硅片(1)的厚度方向未贯穿P型(100)晶面双面抛光硅片(1)。
3.权利要求1或2所述的一种双腔MEMS碱金属气室的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1,在P型(100)晶面双面抛光硅片(1)的正面和反面均沉积氮化硅层(7),再在氮化硅层(7)表面沉积二氧化硅层(8);
步骤2,在P型(100)晶面双面抛光硅片(1)正面和反面的二氧化硅层(8)表面溅射Al掩膜层(10),并在Al掩膜层(10)表面设置光刻胶层(9);
步骤3,在P型(100)晶面双面抛光硅片(1)的正面上与连接通道(4)相对应的区域进行光刻,在P型(100)晶面双面抛光硅片(1)的背面上与工作腔室(3)和辅助腔室(5)对应的区域进行光刻,之后利用NaOH溶液进行显影,直到没有棕色物质析出为止,显影完成;之后去除P型(100)晶面双面抛光硅片(1)的正面上与连接通道(4)相对应区域以及P型(100)晶面双面抛光硅片(1)的正面上与工作腔室(3)和辅助腔室(5)对应区域的Al掩膜层(10)以及二氧化硅层(8);
步骤4,去除工作腔室(3)、连接通道(4)和辅助腔室(5)对应区域的氮化硅层(7),之后在P型(100)晶面双面抛光硅片(1)的正面刻蚀出连接通道(4),之后在P型(100)晶面双面抛光硅片(1)的背面刻蚀出工作腔室(3)和辅助腔室(5);
步骤5,去除Al掩膜层(10)和氮化硅层(7)并进行清洗,得到具有工作腔室(3)、连接通道(4)和辅助腔室(5)的P型(100)晶面双面抛光硅片(1);
步骤6,在步骤5得到的P型(100)晶面双面抛光硅片(1)背面键合第一玻璃片(2-1),得到第一预制件,第一玻璃片(2-1)上留有供引线与P型(100)晶面双面抛光硅片(1)连接区域;
步骤7,在所述第一预制件上工作腔室(3)连接通道(4)和辅助腔室(5)的表面以及第一玻璃片(2-1)上与工作腔室(3)和辅助腔室(5)对应的区域制备HF型派瑞林薄膜(12),得到第二预制件;在第二玻璃片(2-2)上与工作腔室(3)、连接通道(4)和辅助腔室(5)对应的区域制备HF型派瑞林薄膜(12),得到第三预制件;
步骤8,在第二预制件上,在辅助腔室(5)内注入第一去离子水溶液,然后让第一去离子水溶液反应,得到第一固体反应物;
步骤9,将第三预制件上具有HF型派瑞林薄膜(12)的一侧与第二预制件键合,将工作腔室(3)、连接通道(4)和辅助腔室(5)密封,键合时在工作腔室(3)、连接通道(4)和辅助腔室(5)充入保护气体,以及使所述第一固体反应物反应生成碱金属化学反应物(6),所述双腔MEMS碱金属气室制备完成。
4.根据权利要求3所述的一种双腔MEMS碱金属气室的制备方法,其特征在于,步骤2中,先对P型(100)晶面双面抛光硅片(1)进行清洗、烘干、去除表面轧制后溅射Al掩膜层(10);
在Al掩膜层(10)表面涂覆光刻胶层(9)后将光刻胶层(9)烘干。
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