[发明专利]一种曲率半径测量方法及系统在审

专利信息
申请号: 202211604630.0 申请日: 2022-12-13
公开(公告)号: CN115790453A 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 胡摇;刘一鸣;郝群;王子琛;徐楚恒 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01B11/255 分类号: G01B11/255;G01B11/24
代理公司: 北京市中闻律师事务所 11388 代理人: 冯梦洪
地址: 100081 北京市*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 曲率 半径 测量方法 系统
【权利要求书】:

1.一种曲率半径测量方法,其特征在于:其包括以下步骤:

(1)搭建检测光路,测量待测镜口径,将待测镜移动至共焦位置;

(2)推动待测镜沿光轴方向移动,在位移测量干涉仪中获取轴向位移距离,在相位测量干涉仪中获取离焦波前;

(3)对离焦波前进行Zernike拟合,获取离焦系数;

(4)在光学设计软件中对测试光路精确建模,将系统波像差中的离焦系数作为系统的优化目标,将待测镜曲率半径作为优化变量,利用光学设计软件的优化功能进行优化,直至软件获取的系统波像差与实际测量获取的系统波像差一致,得到待测镜的曲率半径。

2.曲率半径测量系统,其特征在于:其包括:波前测量干涉仪(1)、待测球面镜(2)、位移测量干涉仪(3)、线性导轨(4)、测量模块、拟合模块、系统波像差优化模块;

测量模块,其配置来测量待测镜的口径;

拟合模块,其配置来对测量获取的系统波像差进行Zernike拟合,获取系统波像差的离焦系数;

系统波像差优化模块,其配置来在光学设计软件中,将系统波像差的离焦系数作为系统的优化目标,将待测镜的曲率半径作为优化变量,利用光学设计软件的优化功能进行优化,直至软件获取的系统波像差与实际测量获取的系统波像差一致。

3.根据权利要求2所述的曲率半径测量系统,其特征在于:波前测量干涉仪的中心出射光束为主光轴、线性导轨移动方向与位移测量干涉仪工作方向与主光轴平行;待测平面镜由线性导轨负载移动,由位移测量干涉仪监视移动距离;发散光束从波前测量干涉仪中出射,经待测球面镜反射,返回波前测量干涉仪,在相位测量干涉仪中获取离焦波前。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京理工大学,未经北京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211604630.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top