[发明专利]一种曲率半径测量方法及系统在审
申请号: | 202211604630.0 | 申请日: | 2022-12-13 |
公开(公告)号: | CN115790453A | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 胡摇;刘一鸣;郝群;王子琛;徐楚恒 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01B11/255 | 分类号: | G01B11/255;G01B11/24 |
代理公司: | 北京市中闻律师事务所 11388 | 代理人: | 冯梦洪 |
地址: | 100081 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 曲率 半径 测量方法 系统 | ||
1.一种曲率半径测量方法,其特征在于:其包括以下步骤:
(1)搭建检测光路,测量待测镜口径,将待测镜移动至共焦位置;
(2)推动待测镜沿光轴方向移动,在位移测量干涉仪中获取轴向位移距离,在相位测量干涉仪中获取离焦波前;
(3)对离焦波前进行Zernike拟合,获取离焦系数;
(4)在光学设计软件中对测试光路精确建模,将系统波像差中的离焦系数作为系统的优化目标,将待测镜曲率半径作为优化变量,利用光学设计软件的优化功能进行优化,直至软件获取的系统波像差与实际测量获取的系统波像差一致,得到待测镜的曲率半径。
2.曲率半径测量系统,其特征在于:其包括:波前测量干涉仪(1)、待测球面镜(2)、位移测量干涉仪(3)、线性导轨(4)、测量模块、拟合模块、系统波像差优化模块;
测量模块,其配置来测量待测镜的口径;
拟合模块,其配置来对测量获取的系统波像差进行Zernike拟合,获取系统波像差的离焦系数;
系统波像差优化模块,其配置来在光学设计软件中,将系统波像差的离焦系数作为系统的优化目标,将待测镜的曲率半径作为优化变量,利用光学设计软件的优化功能进行优化,直至软件获取的系统波像差与实际测量获取的系统波像差一致。
3.根据权利要求2所述的曲率半径测量系统,其特征在于:波前测量干涉仪的中心出射光束为主光轴、线性导轨移动方向与位移测量干涉仪工作方向与主光轴平行;待测平面镜由线性导轨负载移动,由位移测量干涉仪监视移动距离;发散光束从波前测量干涉仪中出射,经待测球面镜反射,返回波前测量干涉仪,在相位测量干涉仪中获取离焦波前。
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