[发明专利]图像中倾斜目标的校正方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202211630388.4 | 申请日: | 2022-12-19 |
公开(公告)号: | CN115810195A | 公开(公告)日: | 2023-03-17 |
发明(设计)人: | 翟梦华;张逸为;郑军 | 申请(专利权)人: | 聚时科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G06V30/148 | 分类号: | G06V30/148 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 张欣欣 |
地址: | 200082 上海市杨浦区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 倾斜 目标 校正 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种图像中倾斜目标的校正方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待处理图像,所述待处理图像中存在待校正目标;
确定所述待处理图像中每个像素坐标上存在所述待校正目标的概率密度、和所述待处理图像的质心坐标;
基于所述质心坐标和每个像素坐标上存在所述待校正目标的概率密度,构建所述待处理图像对应的协方差矩阵;
对所述协方差矩阵进行矩阵分解,得到所述待校正目标对应的特征向量,并基于所述特征向量,计算所述待校正目标的倾斜角度;
根据所述倾斜角度,对所述待校正目标进行校正。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,确定所述待处理图像中每个像素坐标上存在所述待校正目标的概率密度、和所述待处理图像的质心坐标,包括:
获取每个所述像素坐标对应的像素值,并计算全部所述像素值之和;
将每个所述像素坐标上的像素值与所述像素值之和的比值作为所述概率密度;
在全部所述像素坐标中,将全部像素横坐标以及各个所述像素坐标对应的所述概率密度进行加权求和,得到所述质心坐标的横坐标,并将全部像素纵坐标以及各个所述像素坐标对应的所述概率密度进行加权求和,得到所述质心坐标的纵坐标。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述质心坐标和每个所述像素坐标对应的所述概率密度,构建所述待处理图像对应的协方差矩阵,包括:
基于全部所述像素坐标,构建初始的坐标矩阵;
基于所述质心坐标,对所述坐标矩阵进行中心化,并将每个中心化后的所述像素坐标与所述像素坐标对应的所述概率密度相乘,得到处理后的所述坐标矩阵;
将所述处理后的坐标矩阵的转置矩阵与所述处理后的坐标矩阵进行矩阵相乘,得到所述协方差矩阵。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述协方差矩阵进行矩阵分解,得到所述待校正目标对应的特征向量,并基于所述特征向量,计算所述待校正目标的倾斜角度,包括:
对所述协方差进行奇异分解,得到特征值以及每个特征值对应的特征向量;
将最大特征值对应的所述特征向量作为所述待校正目标对应的特征向量;
根据所述特征向量计算所述待校正目标的倾斜角度。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在获取待处理图像之后,所述方法还包括:
比较所述待校正目标的像素亮度与背景像素亮度;
若所述待校正目标对应的像素亮度小于背景像素亮度,则将所述待处理图像的像素值进行取反操作。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述倾斜角度,对所述待校正目标进行校正,包括:
将所述待处理图像旋转所述倾斜角度;
确定旋转后的所述待处理图像的各个顶点位置,并基于所述顶点位置确定包含旋转后的所述待处理图像的最小矩形,并基于所述最小矩形的各个边与所述待处理图像的各个边,确定待填色区域;
将所述待填色空间区域的像素设置为所述待处理图像的背景像素。
7.一种图像中倾斜目标的校正装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取待处理图像,所述待处理图像中存在待校正目标;
计算模块,用于确定所述待处理图像中每个像素坐标上存在所述待校正目标的概率密度、和所述待处理图像的质心坐标;
所述计算模块,还用于基于所述质心坐标和每个像素坐标上存在所述待校正目标的概率密度,构建所述待处理图像对应的协方差矩阵;
角度解码模块,用于对所述协方差矩阵进行矩阵分解,得到所述待校正目标对应的特征向量,并基于所述特征向量,计算所述待校正目标的倾斜角度;
校正模块,用于根据所述倾斜角度,对所述待校正目标进行校正。
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