[发明专利]一种磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法在审

专利信息
申请号: 202211632961.5 申请日: 2022-12-19
公开(公告)号: CN115754853A 公开(公告)日: 2023-03-07
发明(设计)人: 宁瑞鹏;李倩文;李哲宇 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: G01R33/24 分类号: G01R33/24;G01R33/022;G01R33/12
代理公司: 上海东亚专利商标代理有限公司 31208 代理人: 董梅
地址: 200062 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁共振 成像 系统 剩磁 测量 过程 优化 方法
【权利要求书】:

1.一种磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法,其特征在于:采用正负组合梯度作为测试梯度,结合磁场非均匀性对自旋回波和梯度回波作用的差异,测量由测试梯度引发的磁场均匀性的变化,再利用该变化所导致的回波峰值的改变来量度剩磁的强度,包括下述步骤:

(1)选定测试方向:

将条形均匀样品沿测试方向放置;

(2)获取负正组合测试梯度下的扫描信号峰值:

设置负正组合测试梯度:将测试梯度的幅度先设置为系统允许的负最大值G_max_n保持时间Tnp_n,将测试梯度的幅度设置为0保持时间Tnp_0,再将测试梯度的幅度设置为系统允许的正最大值G_max_p保持时间Tnp_p,将测试梯度的幅度设置为0;将设置的测试梯度施加在测试方向上进行扫描,记录扫描信号的峰值;

(3)获取正负组合测试梯度下的扫描信号峰值:

设置正负组合测试梯度:将测试梯度的幅度先设置为系统允许的正最大值G_max_p保持时间Tpn_p,将测试梯度的幅度设置为0保持时间Tpn_0,再将测试梯度的幅度设置为系统允许的负最大值G_max_n保持时间Tpn_n;将测试梯度的幅度设置为0;将设置的测试梯度施加在测试方向上进行扫描,记录扫描信号的峰值;

(4)量度剩磁强度:

计算所述两种扫描信号峰值的比值间的差值,量度磁共振成像系统中剩磁的强度。

2.根据权利要求1所述的磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)选定测试方向:

选定测试方向后,并将条形均匀样品沿测试方向放置;

(2)获取负正组合测试梯度下的扫描信号峰值:

设置负正组合测试梯度,将设置的测试梯度施加在测试方向上进行扫描,扫描方向垂直于测试方向;进行一维自旋回波扫描;记录自旋回波信号的峰值A_se_np;或者,进行一维梯度回波扫描,记录梯度回波信号的峰值A_ge_np;

(3)获取正负组合测试梯度下的扫描信号峰值:

设置正负组合测试梯度,将设置的测试梯度施加在测试方向上进行扫描,扫描方向与步骤(2)相同,且垂直于测试方向;进行一维自旋回波扫描,记录自旋回波信号的峰值A_se_pn;或者,进行一维梯度回波扫描,记录梯度回波信号的峰值A_ge_pn;

(4)量度剩磁强度:

计算所述两种扫描信号峰值的比值间的差值,量度磁共振成像系统中剩磁的强度。

3.根据权利要求1所述的磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法,其特征在于,步骤(2)中,保持时间Tnp_n、Tnp_0与Tnp_p相等,为系统允许的最小梯度脉宽的100倍。

4.根据权利要求1所述的磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法,其特征在于,步骤(3)中,保持时间Tpn_p、Tpn_0与Tpn_n相等,为系统允许的最小梯度脉宽的100倍。

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