[发明专利]一种磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法在审
申请号: | 202211632961.5 | 申请日: | 2022-12-19 |
公开(公告)号: | CN115754853A | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
发明(设计)人: | 宁瑞鹏;李倩文;李哲宇 | 申请(专利权)人: | 华东师范大学 |
主分类号: | G01R33/24 | 分类号: | G01R33/24;G01R33/022;G01R33/12 |
代理公司: | 上海东亚专利商标代理有限公司 31208 | 代理人: | 董梅 |
地址: | 200062 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磁共振 成像 系统 剩磁 测量 过程 优化 方法 | ||
1.一种磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法,其特征在于:采用正负组合梯度作为测试梯度,结合磁场非均匀性对自旋回波和梯度回波作用的差异,测量由测试梯度引发的磁场均匀性的变化,再利用该变化所导致的回波峰值的改变来量度剩磁的强度,包括下述步骤:
(1)选定测试方向:
将条形均匀样品沿测试方向放置;
(2)获取负正组合测试梯度下的扫描信号峰值:
设置负正组合测试梯度:将测试梯度的幅度先设置为系统允许的负最大值G_max_n保持时间Tnp_n,将测试梯度的幅度设置为0保持时间Tnp_0,再将测试梯度的幅度设置为系统允许的正最大值G_max_p保持时间Tnp_p,将测试梯度的幅度设置为0;将设置的测试梯度施加在测试方向上进行扫描,记录扫描信号的峰值;
(3)获取正负组合测试梯度下的扫描信号峰值:
设置正负组合测试梯度:将测试梯度的幅度先设置为系统允许的正最大值G_max_p保持时间Tpn_p,将测试梯度的幅度设置为0保持时间Tpn_0,再将测试梯度的幅度设置为系统允许的负最大值G_max_n保持时间Tpn_n;将测试梯度的幅度设置为0;将设置的测试梯度施加在测试方向上进行扫描,记录扫描信号的峰值;
(4)量度剩磁强度:
计算所述两种扫描信号峰值的比值间的差值,量度磁共振成像系统中剩磁的强度。
2.根据权利要求1所述的磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)选定测试方向:
选定测试方向后,并将条形均匀样品沿测试方向放置;
(2)获取负正组合测试梯度下的扫描信号峰值:
设置负正组合测试梯度,将设置的测试梯度施加在测试方向上进行扫描,扫描方向垂直于测试方向;进行一维自旋回波扫描;记录自旋回波信号的峰值A_se_np;或者,进行一维梯度回波扫描,记录梯度回波信号的峰值A_ge_np;
(3)获取正负组合测试梯度下的扫描信号峰值:
设置正负组合测试梯度,将设置的测试梯度施加在测试方向上进行扫描,扫描方向与步骤(2)相同,且垂直于测试方向;进行一维自旋回波扫描,记录自旋回波信号的峰值A_se_pn;或者,进行一维梯度回波扫描,记录梯度回波信号的峰值A_ge_pn;
(4)量度剩磁强度:
计算所述两种扫描信号峰值的比值间的差值,量度磁共振成像系统中剩磁的强度。
3.根据权利要求1所述的磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法,其特征在于,步骤(2)中,保持时间Tnp_n、Tnp_0与Tnp_p相等,为系统允许的最小梯度脉宽的100倍。
4.根据权利要求1所述的磁共振成像系统中剩磁测量过程的优化方法,其特征在于,步骤(3)中,保持时间Tpn_p、Tpn_0与Tpn_n相等,为系统允许的最小梯度脉宽的100倍。
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