[发明专利]检测装置及电子设备在审
申请号: | 202211637646.1 | 申请日: | 2022-12-16 |
公开(公告)号: | CN115790696A | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 何秀凤;韩玉敏;田澍滋 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 杜志兰;蒋雅洁 |
地址: | 100085 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 电子设备 | ||
本申请实施例公开了一种检测装置及电子设备,电子设备包括:检测装置包括:本体,具有容纳空间和开口;所述开口和所述容纳空间连通;隔光件,设置于所述容纳空间,使得所述容纳空间的至少部分分隔成第一腔体和第二腔体;检测件,设置于所述第一腔体,能够检测所述开口的第一区域处待检测对象的特征参数;发光件,设置于所述第二腔体,能够向所述开口的第二区域发射光;所述第一区域位于所述第二区域内。
技术领域
本申请涉及一种检测装置及电子设备。
背景技术
检测装置是经常使用的装置;然而,目前的检测装置检测的准确性低。
发明内容
有鉴于此,本申请实施例期望提供一种检测装置及电子设备。
为达到上述目的,本申请的技术方案是这样实现的:
本申请实施例提供了一种检测装置,所述检测装置包括:
本体,具有容纳空间和开口;所述开口和所述容纳空间连通;
隔光件,设置于所述容纳空间,使得所述容纳空间的至少部分分隔成第一腔体和第二腔体;
检测件,设置于所述第一腔体,能够检测所述开口的第一区域处待检测对象的特征参数;
发光件,设置于所述第二腔体,能够向所述开口的第二区域发射光;所述第一区域位于所述第二区域内。
在一些可选的实现方式中,所述开口端面围合成的区域形成开口区域,所述发光件的主光轴与所述开口区域具有第一交点,所述隔光件在所述开口区域处具有投影区域,所述第一交点位于所述投影区域内。
在一些可选的实现方式中,所述第一交点位于所述投影区域的中部。
在一些可选的实现方式中,所述隔光件与所述开口具有第一距离,以使得所述第二区域的至少部分边缘与所述第一腔体侧的开口端面相交。
在一些可选的实现方式中,所述隔光件与所述开口具有第一距离,以使所述第一区域的至少部分边缘与所述第二腔体侧的开口端面相交。
在一些可选的实现方式中,所述第一区域和所述第二区域满足相同条件。
在一些可选的实现方式中,所述检测装置还包括:
透光件,设置于所述容纳空间,与所述隔光件接触,形成所述第一腔体和所述第二腔体的端部。
在一些可选的实现方式中,所述发光件的主光轴与所述透光件具有第一入射角;
所述第一入射角的范围为40度至45度。
在一些可选的实现方式中,所述特征参数为待检测对象的颜色。
本申请实施例还记载了一种电子设备,所述电子设备包括本申请实施例的所述的检测装置。
附图说明
图1为本申请实施例中检测装置的一个可选的局部结构剖视图;
图2为本申请实施例中检测装置的一个可选的局部结构剖视图;
图3为本申请实施例中检测装置的一个可选的结构示意图;
图4为本申请实施例中检测装置的一个可选的结构示意图;
图5为本申请实施例中检测装置的一个可选的局部结构示意图;
图6为本申请实施例中检测装置的一个可选的局部结构示意图;
图7为本申请实施例中检测装置的一个可选的局部结构剖视图;
图8为本申请实施例中检测装置的一个可选的局部结构剖视图;
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