[发明专利]器件芯片的制造方法在审
申请号: | 202211642149.0 | 申请日: | 2022-12-20 |
公开(公告)号: | CN116314023A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 小川雄辉;渡部晃司;桥本一辉;青柳元 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 于靖帅;杨俊波 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 器件 芯片 制造 方法 | ||
提供器件芯片的制造方法,在将所制造的器件芯片层叠而热压接时不会产生芯片不良。器件芯片的制造方法分割被加工物而制造器件芯片,被加工物具有正面和背面,正面由多条交叉的分割预定线划分,在正面的被划分的各区域内设置有器件,其中,器件芯片的制造方法包含如下的步骤:加工槽形成步骤,沿着分割预定线加工被加工物而形成加工槽;树脂层形成步骤,在加工槽形成步骤之后,在被加工物的正面侧形成树脂层;以及树脂层分割步骤,在树脂层形成步骤之后,沿着被加工物的分割预定线分割树脂层。优选还包含在树脂层分割步骤之前在被加工物的背面侧粘贴带的带粘贴步骤,在树脂层分割步骤中,通过将粘贴于被加工物的背面侧的带扩张而将树脂层分割。
技术领域
本发明涉及对晶片等被加工物进行分割而制造器件芯片的器件芯片的制造方法。
背景技术
在器件芯片的制造工艺中,使用在由相互交叉的多条分割预定线(间隔道)划分的多个区域内分别形成有器件的晶片。通过沿着分割预定线对该晶片进行分割,得到分别具有器件的多个器件芯片。器件芯片组装于移动电话、个人计算机等各种电子设备。
在晶片等被加工物的分割中使用切削装置。切削装置具有对被加工物进行保持的卡盘工作台以及对被加工物进行切削的切削单元。在切削单元中内置有主轴,在主轴的前端部安装有环状的切削刀具。利用卡盘工作台对被加工物进行保持,使切削刀具一边进行旋转一边切入至被加工物,由此将被加工物沿着分割预定线进行切削而分割成多个器件芯片。
近年来,电子设备的小型化的趋势显著,对器件芯片的小型化、薄型化的要求提高。因此,利用磨削装置从背面侧对分割前的被加工物进行磨削而使其薄化。但是,当利用切削刀具对薄化后的被加工物进行切削时,有时会在被加工物的背面侧产生被称为崩边的缺口。
因此,正在推进通过激光加工对被加工物进行分割的工艺的开发。例如,沿着分割预定线扫描对于被加工物具有吸收性的(被加工物所吸收的)波长的激光束,由此对被加工物进行烧蚀加工,沿着分割预定线在被加工物上形成加工槽。在加工槽贯穿被加工物的正面和背面的情况下,被加工物被分割。另外,在加工槽未贯穿被加工物的正面和背面的情况下,通过实施进一步的工序而能够以加工槽为起点对被加工物进行分割。
通过被加工物的分割而得到的器件芯片利用引线接合安装、倒装芯片安装等各种安装方式进行安装。例如,器件芯片借助将器件密封的膜状的树脂层(粘接膜)而与安装基板和其他器件芯片接合(参照专利文献1)。
专利文献1:日本特开2016-92188号公报
为了制造设置有树脂层的器件芯片,考虑通过激光加工对预先设置有树脂层的被加工物进行分割。但是,当利用激光束对配设有树脂层的被加工物进行烧蚀加工时,由于因激光束的照射而产生的热,树脂层在被照射部位的周围局部地变质而固化。而且,树脂层的固化区域在将多个芯片层叠而进行热压接时难以伸展,进入至树脂层的固化区域的气泡也难以脱出。
因此,当在树脂层中形成有固化区域时,存在无法适当地进行热压接而无法将各芯片以规定的品质一体化的情况、一体化的各芯片容易分离的情况、以及经由气泡而形成不必要的电连接的情况。即,存在树脂层的局部的固化成为芯片不良的原因的情况。
发明内容
本发明是鉴于该问题点而完成的,其目的在于,提供在将所制造的器件芯片层叠而进行热压接时不会产生芯片不良的器件芯片的制造方法。
根据本发明的一个方式,提供一种器件芯片的制造方法,对被加工物进行分割而制造器件芯片,该被加工物具有正面和背面,该正面由多条交叉的分割预定线划分,在该正面的被划分的各区域内设置有器件,其特征在于,该器件芯片的制造方法包含如下的步骤:加工槽形成步骤,沿着该分割预定线对该被加工物进行加工而形成加工槽;树脂层形成步骤,在该加工槽形成步骤之后,在该被加工物的该正面侧形成树脂层;以及树脂层分割步骤,在该树脂层形成步骤之后,沿着该被加工物的该分割预定线对该树脂层进行分割。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社迪思科,未经株式会社迪思科许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211642149.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造