[发明专利]工业固态硬盘测试方法

权利要求书

1.工业固态硬盘测试方法，其特征在于采用以下步骤：

步骤一，搭建测试平台，根据当前硬盘型号选配合适的操作系统；

步骤二，测试同一硬盘在测试平台中的读写速度，并进行初步判断；

步骤三，提升硬盘占用，进行若干次读写测试，对测试结果进行二次判断；

步骤四，提升测试平台的负载，并提升环境温度，获取当前硬盘读取硬盘主控芯片与存储颗粒表面实际温度，进行三次判断；

步骤五，设置极限环境，对硬盘运转状态进行判断；

步骤六，进行连续断电测试；

步骤七，生成测试报告。

2.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤一中，测试平台包含携带英特尔赛扬baytrail的主板，携带英特尔酷睿i3/i5/i7 CPU的主板，携带桌面级酷睿8700CPU的主板上，所述操作系统包含win7、win10、Ubuntu中的一种。

3.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤二中，通过ASSSD Benchmark软件，测试同一硬盘的读写速度，若测试后的数据与硬盘预设说明书存在差异，则判别当前硬盘为不合格。

4.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤三中，将硬盘容量占用至80％，过AS SSD Benchmark软件，对硬盘进行10次读写测试，每次测试间隔10秒，若10次测试结果相互之间存在较大差异，则判别当前硬盘为不合格，若10次测试结果与步骤二的测试结果存在较大差异，则判别当前硬盘为不合格。

5.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤四中，将测试平台所附属的CPU进行100％负载运行，提升环境温度至50摄氏度，通过用物理探头，经由多路温度测试仪读取硬盘主控芯片与存储颗粒表面实际温度，通过Crystal Disk Info软件获得温度数值进行对比，若表面实际温度与温度数值存在较大差异，则判别当前硬盘为不合格。

6.根据权利要求5所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤四中，通过第三发软件，设定硬盘运行温度峰值。

7.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤五中，极限环境为高温70摄氏度或是低温-20摄氏度，对硬盘关机放置96小时，再次通电进行30次开机测试，若能正常开机，则判定为合格。

8.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤六中，通过延时继电器控制通电60秒后断电5秒，重复3000次，通过累加计数器计数，通过Crystal DiskInfo软件读取通电次数与测试前比较得出软件读取的值，将软件读取的值与计数器得到的值做比较，若两者数值相同，则判别为硬盘合格。

9.根据权利要求1所述的工业固态硬盘测试方法，其特征在于：所述步骤七中，通过测试平台输出先前测试步骤的各项数据，并输出当前硬盘是否通过测试的最终结论。