[发明专利]一种焦炉炭化室底面结构在审
申请号: | 202211646416.1 | 申请日: | 2022-12-21 |
公开(公告)号: | CN115820270A | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 邢高建;张阁;韩龙;肖长志;钱启 | 申请(专利权)人: | 中冶焦耐(大连)工程技术有限公司 |
主分类号: | C10B29/00 | 分类号: | C10B29/00 |
代理公司: | 鞍山嘉讯科技专利事务所(普通合伙) 21224 | 代理人: | 白楠 |
地址: | 116085 辽宁省大连*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 焦炉 炭化 底面 结构 | ||
本发明涉及焦炉炭化室,尤其涉及一种焦炉炭化室底面结构。由第一列炭化室底砖、中列炭化室底砖以及第二列炭化室底砖砌筑而成,第一、二列炭化室底砖位于中列炭化室底砖两侧,三列炭化室底砖之间通过楔形方式连接;第一、二列炭化室底砖断面形状为直角梯形,直角梯形短底面为炭化面;第一、二列炭化室底砖与压在其上的燃烧室第一层墙皮砖嵌套砌筑;中间列炭化室底砖断面形状为等腰梯形,等腰梯形长底面为炭化面;沿机焦侧长向方向各列炭化室底砖之间采用整体性咬合方式连接。增加了炭化室底面砖的整体强度,保证及延长焦炉的一代炉龄使用寿命;而且在日常维护及维修中,易于拆除及重新砌筑,有利于焦炉的正常生产。
技术领域
本发明涉及焦炉炭化室,尤其涉及一种焦炉炭化室底面结构。
背景技术
焦炉作为焦炭生产的工业炉由蓄热室、斜道、炭化室、燃烧室以及炉顶这五大本体部位组成。炭化室是煤隔绝空气干馏的部位,由燃烧室与下方的斜道部位以及上方的炉顶部位合围而成,故炭化室底砖是夹在两道燃烧室之间的斜道部位最上一层砖。
在焦炉炼焦生产过程中,受推焦时机械力及装煤推焦时温度应力等因素的影响,容易造成炭化室底砖凹凸不平,导致推焦困难,最终使炭化室底砖被推坏。因此在焦炉设计过程中,应保证炭化室底砖具有足够的强度,保证在焦炉炼焦生产过程中,炭化室底砖受外力影响的程度降至最小,进而保证以及延长焦炉一代炉龄的使用寿命。
焦炉自投产开始,必然存在损坏、衰老的过程。炭化室底砖受推焦杆的机械应力、装煤推焦时温度应力的影响以及事故等原因造成氨水喷洒到炭化室内等因素的影响,都不可避免的存在炭化室底砖受损的情况。当炭化室底砖破损较严重后应及时更换,否则将导致更大面积的炭化室底砖受损,严重影响焦炉的正常生产。故炭化室底砖在焦炉的日常生产过程中应便于拆除及重新砌筑。
发明内容
为了克服现有技术的不足,本发明提供了一种焦炉炭化室底面结构,增加了炭化室底面砖的整体强度,保证及延长焦炉的一代炉龄使用寿命;而且在日常维护及维修中,易于拆除及重新砌筑,有利于焦炉的正常生产。
为了达到上述目的,本发明采用以下技术方案实现:
一种焦炉炭化室底面结构,由第一列炭化室底砖、中列炭化室底砖以及第二列炭化室底砖砌筑而成,第一、二列炭化室底砖位于中列炭化室底砖两侧,三列炭化室底砖之间通过楔形方式连接;第一、二列炭化室底砖断面形状为直角梯形,直角梯形短底面为炭化面;第一、二列炭化室底砖与压在其上的燃烧室第一层墙皮砖嵌套砌筑;中间列炭化室底砖断面形状为等腰梯形,等腰梯形长底面为炭化面;沿机焦侧长向方向各列炭化室底砖之间采用整体性咬合方式连接。
进一步地,燃烧室第一层墙皮砖采用T型砖,与两侧的斜道砖嵌套砌筑。
进一步地,第一、二列炭化室底砖外漏的炭化面面积各自不高于炭化室底面总面积的五分之一,中列炭化室底砖的炭化面面积不低于炭化室底总面积的五分之三。
进一步地,中列炭化室底砖采用Z型砖,沿机焦侧长向方向上采用Z字型镶嵌叠压方式连接。
进一步地,中列炭化室底砖采用Z型砖和L型砖,中列炭化室底砖在沿机焦侧长向方向上Z型砖和L型砖间隔一定长度,交错排布。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1)通过占炭化室底面不低于五分之三面积的中列炭化室底砖沿机焦侧长向方向上采用Z字型镶嵌叠压的连接方式以及第一、二列炭化室底砖与压在其上的燃烧室第一层墙皮砖嵌套砌筑方式,增强了炭化室底砖的整体强度,降低焦炉生产过程中机械力与温度应力等因素对炭化室底砖的损坏程度,有利于保证以及延长焦炉一代炉顶的使用寿命。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中冶焦耐(大连)工程技术有限公司,未经中冶焦耐(大连)工程技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211646416.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种话机绑定方法、装置及存储介质
- 下一篇:一种接口测试方法及装置