[发明专利]测量玻璃工件表面移除量的方法及测量装置

权利要求书

1.一种测量玻璃工件表面移除量的方法，其特征在于，包括：

提供玻璃工件，所述玻璃工件具有相对的第一表面和第二表面，所述玻璃工件内部形成标记；

分别测量所述标记与所述第一表面之间的第一距离以及所述标记与所述第二表面之间的第二距离；

在从所述第一表面侧对所述玻璃工件进行抛光得到第一抛光面后，测量所述第一抛光面与所述标记之间的第三距离；

在从所述第二表面侧对所述玻璃工件进行抛光得到第二抛光面后，测量所述第二抛光面与所述标记之间的第四距离；

根据所述第一距离和所述第三距离得到在所述第一表面移除的第一厚度，根据所述第二距离和所述第四距离得到在所述第二表面移除的第二厚度。

2.如权利要求1所述的测量玻璃工件表面移除量的方法，其特征在于，所述测量玻璃工件表面移除量的方法还包括：

根据所述第三距离和所述第四距离判断所述玻璃工件被抛光后剩余的总厚度是否满足要求。

3.如权利要求1所述的测量玻璃工件表面移除量的方法，其特征在于，所述玻璃工件包括邻接的第一边缘和第二边缘，所述标记为一个点，所述标记靠近所述第一边缘和所述第二边缘的交界点。

4.如权利要求3所述的测量玻璃工件表面移除量的方法，其特征在于，所述标记与所述第一边缘和所述第二边缘之间的距离相同，且所述标记与所述第一边缘和所述第二边缘之间的距离范围为3mm-10mm。

5.如权利要求3所述的测量玻璃工件表面移除量的方法，其特征在于，所述标记的直径范围为0.001mm-0.006mm。

6.如权利要求1所述的测量玻璃工件表面移除量的方法，其特征在于，所述标记包括多个间隔设置的标记点，所述第一距离和所述第三距离分别为所述第一表面和所述第一抛光面与多个所述标记点之间的距离的平均值，所述第二距离和所述第四距离分别为所述第二表面和所述第二抛光面与多个所述标记点之间的距离的平均值。

7.如权利要求1所述的测量玻璃工件表面移除量的方法，其特征在于，所述标记包括多个间隔设置的标记点，至少一个所述标记点对应的所述第一表面的移除厚度与其他所述标记点对应的所述第一表面的移除厚度不同，所述第三距离为不同移除厚度的所述第一抛光面与对应的多个所述标记点之间的距离的集合。

8.如权利要求1所述的测量玻璃工件表面移除量的方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过镭射的方式在所述玻璃工件内部形成所述标记。

9.如权利要求1所述的测量玻璃工件表面移除量的方法，其特征在于，在所述分别测量所述标记与所述第一表面之间的第一距离以及所述标记与所述第二表面之间的第二距离的步骤之前，所述测量玻璃工件表面移除量的方法还包括：

根据所述标记在所述玻璃工件内设置的预设位置划定所述标记可能设置的区域；

通过主相机对所述标记可能设置的区域进行图像识别，并在获取的图像中识别出所述标记。