[发明专利]一种基于充电时间的电容容值评估与剩余寿命预测方法在审

专利信息
申请号: 202211670487.5 申请日: 2022-12-20
公开(公告)号: CN116127723A 公开(公告)日: 2023-05-16
发明(设计)人: 谭静;侯涛;关国华 申请(专利权)人: 中车永济电机有限公司
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G01R31/392;G06F119/04
代理公司: 太原科卫专利事务所(普通合伙) 14100 代理人: 朱源
地址: 044500 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 充电 时间 电容 评估 剩余 寿命 预测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于充电时间的电容容值评估与剩余寿命预测方法,其特征在于:包括以下步骤:建立容值衰退并充电至指定电压的半实物仿真实验,得到每个容值下的充电时间数据,根据每个容值下的充电时间数据建立电容衰退状态模型;将待预测新的电容多次充电至指定电压的充电时间筛选后迭代入电容衰退状态模型并建立该电容的电容状态识别模型;电容状态识别模型发布后,将待预测电容充电至指定电压的充电时间进行监测,该充电时间输入到电容状态识别模型评估电容当前容值,并进行寿命预测。

2.根据权利要求1所述的一种基于充电时间的电容容值评估与剩余寿命预测方法,其特征在于:将待预测电容进行多次充电至指定电压,选择出现频次最高及次高的充电时间值作为原始值,该原始值迭代入到电容衰退状态模型建立电容状态识别模型进行容值识别。

3.根据权利要求1或2所述的一种基于充电时间的电容容值评估与剩余寿命预测方法,其特征在于:每个产品编号的电容都有对应的电容状态识别模型,定期提取运行数据中出现频率最高的充电时间,调用该产品编号对应的电容状态识别模型进行容值状态识别。

4.根据权利要求1或2所述的一种基于充电时间的电容容值评估与剩余寿命预测方法,其特征在于:容值衰退是从100%衰退到70%。

5.根据权利要求1或2所述的一种基于充电时间的电容容值评估与剩余寿命预测方法,其特征在于:电容状态识别模型为SVM模型。

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