[发明专利]一种测试模式的控制方法、装置、芯片、介质及模组设备

说明书

本申请提供了一种测试模式的控制方法、装置、芯片、介质及模组设备。该方法包括：检测到电子设备上电后，读取电子设备的存储器中存储的控制信息，控制信息的值为第一值时，控制信息指示芯片没有安全测试需求，控制信息的值为第二值时，控制信息指示芯片具有安全测试需求，第一值和第二值不相同；若控制信息指示芯片没有安全测试需求，则保持芯片的测试模式为开启状态；若控制信息指示芯片具有安全测试需求，则进行测试合法性校验；若测试合法性校验通过，则保持芯片的测试模式为开启状态；若测试合法性校验不通过，则关闭芯片的测试模式。基于本申请的方法，可以防止芯片被黑客恶意切入测试模式，保证芯片内部存储器和寄存器中敏感信息的安全性。

技术领域

本发明涉及芯片安全领域，尤其涉及一种测试模式的控制方法、装置、芯片、介质及模组设备。

背景技术

芯片通常具有测试电路以执行测试模式，一般而言，测试模式可包括Scan(ScanDesign,扫描路径设计)测试模式、Bist(Build-in Self Test，内建自测试)测试模式、jtag(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)测试模式等多种测试模式。Scan测试模式可以用来测试寄存器等标准单元间传递的数值，Bist测试模式能够直接产生测试激励和响应，对存储器进行测试，Jtag测试模式可以通过专用的测试工具对内部节点进行测试。目前，黑客可能会恶意从芯片的正常模式切入测试模式，并利用多种测试模式，窃取用户的敏感信息和芯片的配置信息。因此，如何提高芯片的安全性是目前亟待解决的问题。

发明内容

本申请提供了一种测试模式的控制方法，有利于防止芯片被黑客恶意切入测试模式，保证芯片内部存储器和寄存器中敏感信息的安全性。

第一方面，本申请提供一种测试模式的控制方法，该方法包括：检测到电子设备上电后，读取电子设备的存储器中存储的控制信息，控制信息的值为第一值时，控制信息指示芯片没有安全测试需求，控制信息的值为第二值时，控制信息指示芯片具有安全测试需求，第一值和第二值不相同；若控制信息指示芯片没有安全测试需求，则保持芯片的测试模式为开启状态；若控制信息指示芯片具有安全测试需求，则进行测试合法性校验；若测试合法性校验通过，则保持芯片的测试模式为开启状态；若测试合法性校验不通过，则关闭芯片的测试模式。

基于第一方面所描述的方法，可以识别芯片是否具有安全测试需求，并对芯片的测试模式进行控制，可以保护芯片内部的数据不被黑客窃取。

在一种可能的实现中，控制信息的默认值为第一值，若读取的控制信息的值为第二值，方法还包括：接收设置指令，设置指令用于将控制信息的值设置为第二值；基于设置指令，将控制信息的值设置为第二值。

基于该可能的实现方式，通过设置控制信息指示芯片是否具有安全测试需求，便于对芯片进行测试时采用相应安全控制策略。

在一种可能的实现中，存储器为电子熔丝存储器，电子熔丝存储器包括公共区域和安全区域，控制信息位于电子熔丝存储器的安全区域。

基于该可能的实现方式，可以保护控制信息不被窃取和篡改，可以保护内部数据安全。

在一种可能的实现中，控制信息不上扫描链。

基于该可能的实现方式，控制信息不在扫描链上，可以保护控制信息的安全性，从而进一步提高芯片内部信息和数据的安全性。

在一种可能的实现中，在不掉电的子系统内包括寄存器，寄存器的值为第三值时，表示芯片的测试模式为开启状态，寄存器的值为第四值时，表示芯片的测试模式为关闭状态，寄存器的默认值为第三值。

基于该可能的实现方式，可以控制保持或关闭测试模式，可以保护芯片内部信息和数据的安全性。

在一种可能的实现中，寄存器不上扫描链。