[发明专利]一种导电胶带接触电阻低辐射测试治具及其测试方法

权利要求书

1.一种导电胶带接触电阻低辐射测试治具，其特征在于：包括测试仪表、测试校准件、测试模块和挂件模块；

所述测试仪表为标准矢量网络分析仪，具备单端口测试功能，能够动态分析端口的S参数、阻抗参数；

所述测试校准件包括带状线传输模块、标准校准件，所述带状线传输模块具有与测试仪表端口耦合的第一端口和用于对治具进行单端口校准的第二端口，且所述第二端口能够与所述挂件模块耦合；

所述标准校准件为矢量网络分析仪标准机械校准件，包括开路校准件、短路校准件、50欧姆负载校准件中的至少一种；

所述测试模块的外形及结构尺寸与测试校准件中带状线传输模块相同，都具有双端口；测试模块具有多个带状线内导体，相邻带状线内导体之间具有矩形槽隙，矩形槽隙边缘具有梳状结构；

所述测试模块具有与测试仪表耦合的第三端口和用于对治具进行单端口校准的第四端口，第四端口能够与所述挂件模块耦合；

所述挂件模块为单端口短路模块，所述短路模块能够形成高频电感；所述挂件模块的阻抗范围在谐振点以下。

2.根据权利要求1所述的导电胶带接触电阻低辐射测试治具，其特征在于：所述带状线传输模块为长度为5cm至30cm的标准带状线传输线；所述带状线传输模块的第一端口和第二端口互易，第一端口连接测试仪表，第二端口连接标准校准件。

3.根据权利要求1所述的导电胶带接触电阻低辐射测试治具，其特征在于：所述矩形槽隙数量为 1至10个，所述矩形槽隙的长度为5mm至50mm。

4.根据权利要求1所述的导电胶带接触电阻低辐射测试治具，其特征在于：所述带状线传输模块的长度为20cm，宽度为6cm，厚度为1.6mm，底部铺铜，上部带状线内导体宽度为6mm，介质板为FR4材质。

5.根据权利要求1所述的导电胶带接触电阻低辐射测试治具，其特征在于：所述测试模块的第三端口和第四端口互易端口，第三端口和第四端口采用内径为3.5mm的SMA接头连接，第三端口接测试仪表，第四端口接标准校准件。

6.根据权利要求1所述的导电胶带接触电阻低辐射测试治具，其特征在于：所述挂件模块为单端口短路模块，长度为3cm，宽度为6cm，厚度为1.6mm，底部铺铜，上部带状线内导体宽度为6mm，带状线内导体长度为1.5cm，介质板为FR4材质，终端短路形成高频电感。

7.一种导电胶带接触电阻低辐射测试方法，其特征在于，利用权利要求1中所述的导电胶带接触电阻低辐射测试治具，包括以下步骤：

S1、治具校准：将测试仪表调试至待测频段内；将测试校准件中的带状线传输模块的第一端口耦合至测试仪表端口；在测试校准件中的带状线传输模块的第二端口对治具进行单端口校准；校准完毕后，测试校准件的带状线传输模块的第二端口耦合至挂件模块，调出史密斯圆图曲线，并记录挂件模块阻抗参数数据；

S2、贴敷测试样品：将待测导电胶带贴敷至测试模块的矩形槽隙中；保证贴敷面与矩形槽隙边缘的梳状结构紧密连接；将测试模块的第三端口耦合至测试仪表，第四端口耦合至校准时选择的挂件模块；

S3、参数测试：读取导电胶带的高频接触电阻参数数据。

8.根据权利要求7中所述的导电胶带接触电阻低辐射测试方法，其特征在于：所述史密斯圆图曲线只有半圈以内的弧线，并且在上半区。

9.根据权利要求7中所述的导电胶带接触电阻低辐射测试方法，其特征在于：所述待测导电胶带的外形尺寸大于或等于测试模块的矩形槽隙尺寸。

10.根据权利要求7中所述的导电胶带接触电阻低辐射测试方法，其特征在于：所述导电胶带的高频接触电阻参数数据为挂件模块阻抗参数数据，或为读取的挂件模块阻抗参数数据减去校准时记录的挂件模块阻抗参数数据。