[发明专利]一种测试箱级联的装置和方法

说明书

本发明涉及测试箱级联技术领域，且公开了一种测试箱级联的装置和方法，包括外壳体，所述外壳体的底部固定安装有支撑脚，所述外壳体的正面设置有柜门，所述外壳体的内部固定安装有测试机，所述外壳体的背部设置有接头固定机构，所述外壳体的底部与柜门的正面设置有散热通风机构。该测试箱级联的装置和方法，通过螺帽向外侧拉动拉动杆，使拉动杆通过滑动块向外侧拉动连接杆，连接杆带动卡接块向外侧移动，并使滑动块压缩复位弹簧，再将计算机的接头体插入到信号端口中，随后松开螺帽，通过复位弹簧的弹力使滑动块带动卡接块插入到接头体的卡接槽中，使接头体固定在信号端口中，从而防止在使用过程中接头体发生脱落的情况。

技术领域

本发明涉及测试箱级联技术领域，具体为一种测试箱级联的装置和方法。

背景技术

测试箱是指用于对电子设备进行检测的仪器，而级联可以定义为两台或两台以上的交换机通过一定的方式相互连接,根据需要,多台交换机可以以多种方式进行级联。通过级联使多台测试箱可以进行连接使用。

现有技术中，所使用的测试箱在使用过程中，计算机的接头直接插接在测试箱的端口上，无法对接头进行有效的固定，从而使得在使用过程中接头容易发生脱落，从而使得测试中断的情况，其次现有的测试箱在使用过程中，散热效果较差，使得箱内的温度较高，从而影响测试箱的正常运行，并且在ATE测试中，由于测试通道数的需求，通常需要多个测试箱级联来满足测试端口数的需求，级联时需要确保通信信号的带宽和同步信号同步性能，因此需要发明出一种测试箱级联的装置和方法来解决上述问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试箱级联的装置和方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种测试箱级联的装置和方法，包括外壳体，所述外壳体的底部固定安装有支撑脚，所述外壳体的正面设置有柜门，所述外壳体的内部固定安装有测试机，所述外壳体的背部设置有接头固定机构，所述外壳体的底部与柜门的正面设置有散热通风机构。

所述接头固定机构包括接头组件、固定组件与卡接组件，所述接头组件设置在外壳体背端的内部，所述卡接组件设置在固定组件的内部。

优选的，所述接头组件包括信号端口，所述信号端口设置在外壳体的背部，所述信号端口与测试机之间固定安装有数据线，所述信号端口的内部插接有接头体，便于使接头体与测试机进行连接。

优选的，所述固定组件包括固定框，所述固定框固定安装在外壳体的背部，所述固定框的外侧设置有端盖，所述端盖与固定框之间设置有第一螺栓，所述端盖与第一螺栓的对应位置处开设有通孔，所述固定框与第一螺栓的对应位置处开设有螺纹孔，且所述第一螺栓穿过通孔螺纹安装在螺纹孔中，便于使固定框固定安装。

优选的，所述卡接组件包括滑动块，所述滑动块滑动安装在固定框的内部，所述滑动块的内侧固定安装有连接杆，所述固定框的内部固定安装有限位杆，所述滑动块的外侧固定安装有拉动杆，所述拉动杆远离滑动块的一端螺纹安装有螺帽，所述端盖与滑动块之间固定安装有复位弹簧，所述连接杆远离滑动块的一端固定安装有卡接块，便于对接头体进行限位固定。

优选的，所述滑动块与限位杆的对应位置处开设有通孔，且所述限位杆穿过通孔，所述固定框的内侧与连接杆的对应位置处开设有通孔，且所述连接杆穿过通孔，所述端盖与拉动杆的对应位置处开设有通孔，且所述拉动杆穿过通孔，便于使滑动块限位滑动。

优选的，所述接头体与卡接块的对应位置处开设有卡接槽，且所述卡接块插接在卡接槽的内部，所述卡接块的外形结构为梯形结构，便于使卡接块固定接头体。