[发明专利]压力传感器的制作方法及压力传感器在审
申请号: | 202211695125.1 | 申请日: | 2022-12-28 |
公开(公告)号: | CN115799176A | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 陈磊;周志健;朱恩成;张强;王栋杰;王雨晨 | 申请(专利权)人: | 歌尔微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/822 | 分类号: | H01L21/822;G01L19/04;G01K7/01;G01K7/16;H01L27/07;H01L21/265 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡庆 |
地址: | 266101 山东省青岛市崂*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 压力传感器 制作方法 | ||
1.一种压力传感器的制作方法,其特征在于,所述压力传感器的制作方法包括以下步骤:
提供一硅基体,在所述硅基体上形成掩蔽层;
光刻图形化后,在所述硅基体上形成P型轻掺杂区;
通过离子注入或扩散方式,在所述硅基体内形成重掺杂区;
制作电极,以在所述硅基体上制作完成压力感应模块和温度感应模块;
对所述硅基体的底部进行刻蚀形成空腔。
2.根据权利要求1所述的压力传感器的制作方法,其特征在于,所述在所述硅基体内形成重掺杂区的步骤包括:
通过离子注入或者扩散方式,在所述P型轻掺杂区位置形成P型重掺杂区;
通过离子注入或者扩散方式,在所述硅基体内形成N型重掺杂区;
所述制作电极的步骤包括:
制作电极分别与所述N型重掺杂区和所述P型重掺杂区连接。
3.根据权利要求2所述的压力传感器的制作方法,其特征在于,所述P型轻掺杂区包括左P型轻掺杂区和右P型轻掺杂区,所述在部分所述P型轻掺杂区位置形成P型重掺杂区的步骤包括:
在所述左P型轻掺杂区形成P型重掺杂区,且在所述右P型轻掺杂区位置形成两个P型重掺杂区;
所述在所述硅基体内形成N型重掺杂区的步骤包括:
在所述右P型轻掺杂区内,所述右P型轻掺杂区两侧、以及所述左P型轻掺杂区外分别形成所述N型重掺杂区。
4.根据权利要求2所述的压力传感器的制作方法,其特征在于,所述P型轻掺杂区包括左P型轻掺杂区和右P型轻掺杂区,所述在部分所述P型轻掺杂区位置形成P型重掺杂区的步骤包括:
在所述左P型轻掺杂区形成P型重掺杂区,且在所述右P型轻掺杂区位置形成一个P型重掺杂区;
所述在所述硅基体内形成N型重掺杂区的步骤包括:
在所述右P型轻掺杂区两侧分别形成所述N型重掺杂区。
5.根据权利要求2所述的压力传感器的制作方法,其特征在于,所述在部分所述P型轻掺杂区位置形成P型重掺杂区的步骤包括:
在部分所述P型轻掺杂区位置注入P型重掺杂离子形成所述P型重掺杂区,所述P型重掺杂离子为硼离子、镓离子或铟离子中的至少一种。
6.根据权利要求2所述的压力传感器的制作方法,其特征在于,所述通过离子注入或者扩散方式,在所述硅基体内形成N型重掺杂区的步骤包括:
通过注入N型重掺杂离子,形成所述N型重掺杂区,所述N型重掺杂离子为硼离子、镓离子或铟离子中的至少一种。
7.根据权利要求1所述的压力传感器的制作方法,其特征在于,所述在所述硅基体内形成重掺杂区的步骤包括:
通过离子注入或者扩散方式,在所述P型轻掺杂区位置分别形成P型重掺杂区;
所述制作电极的步骤包括:
制作一电极与所述P型轻掺杂区连接,其余电极分别与所述P型重掺杂区连接。
8.根据权利要求1所述的压力传感器的制作方法,其特征在于,所述在所述硅基体内形成重掺杂区的步骤包括:
通过离子注入或者扩散方式,在所述P型轻掺杂区位置分别形成P型重掺杂区;
所述制作电极的步骤包括:
制作电极分别与所述P型重掺杂区连接。
9.根据权利要求1~8中任一项所述的压力传感器的制作方法,其特征在于,所述制作电极,在所述硅基体上形成压力感应模块和温度感应模块的步骤包括:
在所述掩蔽层对应位置形成接触孔;
在所述接触孔位置分别制作金属连接线和焊盘;
生长保护层,蚀刻掉焊盘位置对应的所述保护层以暴露出焊盘。
10.一种压力传感器,其特征在于,所述压力传感器包括硅基体,所述硅基体的底部形成有底腔,所述底腔的开口与外界连通,所述压力传感器包括压力传感模块和温度传感模块。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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