[发明专利]老化补偿的检测系统、方法及设备

说明书

本申请实施例提供了一种老化补偿的检测系统、方法及设备，涉及显示面板技术领域。该老化补偿的检测系统包括：老化补偿模块，所述老化补偿模块用于对显示数据进行补偿，得到补偿后的显示数据；老化计算模块，所述老化计算模块用于对所述补偿后的显示数据进行老化处理，得到老化处理后的显示数据；显示面板，所述显示面板用于接收所述老化处理后的显示数据、并基于所述老化处理后的显示数据进行显示；以及，检测模块，所述检测模块用于获取所述显示面板的实际亮度，并根据所述实际亮度检测所述老化补偿模块对所述显示数据的补偿效果。根据本申请实施例，能够加速对老化补偿效能的验证，提升老化补偿效能验证结果的可靠性。

技术领域

本申请属于显示面板技术领域，尤其涉及一种老化补偿的检测系统、方法及设备。

背景技术

随着显示技术的飞速发展，全面屏显示已经成为手机等移动显示装置的发展趋势。OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)面板在长时间的使用中，RGB的亮度会受到驱动电流和温度等因素的影响而慢慢衰减，因此在OLED面板的电子系统上会在显示驱动芯片(Display Driver Integrated Circui，DDIC)/屏驱动板(Timer ControlRegister，TCON)的芯片内设计老化补偿的功能。

在上述老化补偿功能投入使用之前，需要对其老化补偿效能进行验证。目前老化补偿功能的验证实现方式为：将基于老化补偿功能运算得到的补偿结果直接应用在已经老化的OLED面板上，再根据该OLED面板所产生的效果来对老化补偿功能进行验证。然而，此验证方式只能针对当下的OLED面板已经老化使用到某个时间点的状况来进行验证，对于其它老化的时间状况却无法在短时间内来验证效能，导致老化补偿效能验证效率低下，且由于可用于效能验证的老化面板有限，其老化补偿效能验证结果的可靠性也不高。

发明内容

本申请实施例提供了一种老化补偿的检测系统、方法及设备，能够加速对老化补偿效能的验证，提升老化补偿效能验证结果的可靠性。

第一方面，本申请实施例提供了一种老化补偿的检测系统，该老化补偿的检测系统包括：

老化补偿模块，老化补偿模块用于对显示数据进行补偿，得到补偿后的显示数据；

老化计算模块，与老化补偿模块连接，老化计算模块用于对补偿后的显示数据进行老化处理，得到老化处理后的显示数据；

显示面板，与老化计算模块连接，显示面板用于接收老化处理后的显示数据、并基于老化处理后的显示数据进行显示；以及，

检测模块，检测模块用于获取显示面板的实际亮度，并根据实际亮度检测老化补偿模块对显示数据的补偿效果。

在第一方面一种可能的实施方式中，考虑到即使针对同一显示数据，显示面板的老化程度以及面板状态不同，也会使得对于该显示数据的补偿力度以及老化处理程度不同。因此，为了更为准确实现老化补偿模块对显示数据的补偿，以及老化计算模块对补偿后的显示数据的老化处理，可选地，老化补偿模块具体用于获取待测老化参数，并基于待测老化参数对显示数据进行老化补偿，得到补偿后的显示数据；老化计算模块具体用于基于待测老化参数对补偿后的显示数据进行老化处理，得到老化处理后的显示数据。

本实施方式中，通过在老化补偿模块以及老化计算模块中引入待测老化参数，使得老化补偿模块能够更为合理、准确地实现对显示数据的针对性补偿，并且，也使得老化计算模块能够更为准确地实现对补偿后的显示数据的老化处理，从而有效提升了对于老化补偿模块的补偿效能检测的可靠性。

在第一方面一种可能的实施方式中，考虑到显示面板可能存在的老化现象对于最终验证结果的干扰，在老化计算模块基于待测老化参数对补偿后的显示数据进行老化处理的情况下，为了进一步保障老化计算模块的老化处理效果以及准确性，可选地，显示面板为使用时长小于预设时长的显示面板。