[发明专利]一种异形边缘缺陷检测方法及系统

权利要求书

1.一种异形边缘缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取异形边缘的所有点，并按顺序排列；

计算每个点位置的切线斜率，并根据切线斜率对应生成垂直于切线的斜矩形；

对每个斜矩形进行灰度统计得到每个斜矩形的背景灰度值集；

利用背景灰度值集构建异形边缘灰度背景；

再根据连续边缘灰度变化平稳的特征，对图像进行缺陷增强，并分割出待检目标。

2.根据权利要求1所述的异形边缘缺陷检测方法，其特征在于，在所述利用背景灰度值集构建异形边缘灰度背景的步骤中，包括：

对背景灰度值集数组进行中值滤波处理；

对经中值滤波处理后的背景灰度值集数组采用最小二乘法曲线拟合，得到真实背景数组，所述真实背景数组的含义为每个斜矩形的真实背景灰度值，所述真实背景数组用于对斜矩形内图像灰度值集进行分割处理，得到初始目标缺陷。

3.根据权利要求2所述的异形边缘缺陷检测方法，其特征在于，还包括：针对不同尺寸缺陷的检测，通过调节构建异形边缘灰度背景步骤中的中值滤波尺度和最小二乘法的幂值来进行异形边缘灰度背景的构造。

4.根据权利要求3所述的异形边缘缺陷检测方法，其特征在于，中值滤波尺度为n/20，最小二乘法的幂值为小于等于四阶。

5.根据权利要求1所述的异形边缘缺陷检测方法，其特征在于，在所述再根据连续边缘灰度变化平稳的特征，对图像进行缺陷增强，并分割出待检目标的步骤中，包括：

使用形态学处理和面积筛选提取出最终目标缺陷。

6.根据权利要求1所述的异形边缘缺陷检测方法，其特征在于，在所述计算每个点位置的切线斜率，并根据切线斜率对应生成垂直于切线的斜矩形的步骤之后，还包括：

对生成垂直于切线的斜矩形的图像进行掩膜操作。

7.根据权利要求1所述的异形边缘缺陷检测方法，其特征在于，在所述获取异形边缘的所有点，并按顺序排列的步骤中，还包括：

以插值方式降低获取异形边缘的所有点的个数。

8.根据权利要求2所述的异形边缘缺陷检测方法，其特征在于，在所述再根据连续边缘灰度变化平稳的特征，对图像进行缺陷增强，并分割出待检目标的步骤中，还包括：

再次遍历每个斜矩形，得到斜矩形内图像灰度值集，用真实背景数组对所述斜矩形内图像灰度值集进行分割处理，得到初始目标缺陷。

9.一种异形边缘缺陷检测系统，其特征在于，包括：

轮廓点提取单元，用于获取异形边缘的所有点，并按顺序排列；

斜矩形生产单元，用于计算每个点位置的切线斜率，并根据切线斜率对应生成垂直于切线的斜矩形；

灰度统计单元，用于对每个斜矩形进行灰度统计得到每个斜矩形的背景灰度值集；

构建背景单元，用于利用背景灰度值集构建异形边缘灰度背景；

分割目标单元，用于根据连续边缘灰度变化平稳的特征，对图像进行缺陷增强，并分割出待检目标。

10.根据权利要求9所述的异形边缘缺陷检测系统，其特征在于，还包括真实背景单元，被配置为执行以下步骤：

对背景灰度值集数组进行中值滤波处理；

对经中值滤波处理后的背景灰度值集数组采用最小二乘法曲线拟合，得到真实背景数组，所述真实背景数组的含义为每个斜矩形的真实背景灰度值，所述真实背景数组用于对斜矩形内图像灰度值集进行分割处理，得到初始目标缺陷。