[发明专利]片上时钟的校准方法、装置和集成电路在审
| 申请号： | 202211725282.2 | 申请日： | 2022-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN116301198A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 刘麒麟;马迁 | 申请（专利权）人： | 紫光同芯微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F1/08 | 分类号： | G06F1/08;G06F1/10 |
| 代理公司： | 北京康盛知识产权代理有限公司 11331 | 代理人： | 杨国勇 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区王庄路*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 时钟 校准 方法 装置 集成电路 | ||
1.一种片上时钟的校准方法，其特征在于，包括：
获得被采样时钟的第一频率；
根据频率与采样计数的对应关系，确定所述第一频率和目标频率二者所对应的目标采样计数；
以片上时钟的输出频率对所述被采样时钟输出的频率信号进行采样，并记录第一采样计数；
在所述第一采样计数减去所述目标采样计数的差值的绝对值大于预设门限值的情况下，调整所述片上时钟的校准值，并重新以片上时钟的输出频率对所述被采样时钟输出的频率信号进行采样，记录第一采样计数；
在所述第一采样计数减去所述目标采样计数的差值的绝对值小于或等于预设门限值的情况下，确认完成所述片上时钟的校准。
2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，根据频率与采样计数的对应关系，确定所述第一频率和目标频率二者所对应的目标采样计数，包括：
其中，CNTdst为目标采样计数，fdst为目标频率，fclk为第一频率。
3.根据权利要求2所述的校准方法，其特征在于，
以片上时钟的输出频率对所述被采样时钟输出的频率信号进行采样，并记录第一采样计数，包括：对所述被采样时钟输出的频率信号进行分频处理，获得所述第一频率对应第二频率；所述第一频率与分频系数的乘积为所述第二频率；以所述片上时钟的输出频率对所述第二频率对应的频率信号进行多个连续周期的采样；所述周期为所述第二频率对应的频率信号的周期；
对应地，根据频率与采样计数的对应关系，确定所述第一频率和所述目标频率二者所对应的目标采样计数，包括：
其中，CNTdst为目标采样计数，div为分频系数，period为连续周期的数量，fdst为目标频率，fclk为第一频率。
4.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，确定所述第一频率和目标频率二者所对应的目标采样计数，包括：
在所述目标频率不在所述片上时钟的输出频率范围的情况下，获得所述目标频率的倍频；
根据频率与采样计数的对应关系，确定所述第一频率和所述目标频率的倍频二者所对应的目标采样计数。
5.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，调整所述片上时钟的校准值，包括：
在所述第一采样计数减去所述目标采样计数的差值的绝对值大于预设门限值，且所述差值大于零的情况下，减少所述片上时钟的校准值，以减少所述片上时钟的输出频率；
在所述第一采样计数减去所述目标采样计数的差值的绝对值大于预设门限值，且所述差值小于零的情况下，增加所述片上时钟的校准值，以增加所述片上时钟的输出频率。
6.根据权利要求1至5任一项所述的校准方法，其特征在于，在每次以片上时钟的输出频率对所述被采样时钟输出的频率信号进行采样时，先使所述片上时钟起振设定时长，再以片上时钟的输出频率对所述被采样时钟输出的频率信号进行采样。
7.根据权利要求1至5任一项所述的校准方法，其特征在于，在确认完成所述片上时钟的校准，还包括：
记录所述片上时钟的最终校准值、最终的采样计数和迭代的次数；
其中，每重复一次以片上时钟的输出频率对所述被采样时钟输出的频率信号进行采样，并记录第一采样计数，迭代次数加1。
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