[发明专利]一种指纹模组的检测方法、设备、存储介质和产品

权利要求书

1.一种指纹模组的检测方法，其特征在于，包括：

获取指纹模组在屏幕下方时针对屏幕上的测试部件所采集的测试图像；

对所述测试图像进行变换，得到所述测试图像的频谱图；

对所述测试图像的频谱图进行分析，得到所述指纹模组受到位于屏幕中的元件干扰的干扰度；

根据所述干扰度，确定所述指纹模组的指纹图像采集性能是否合格。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，对所述测试图像的频谱图进行分析，得到所述指纹模组受到位于屏幕中的元件干扰的干扰度，包括：

根据所述测试图像的频谱图中各个像素点对应的频率，对在同一频率参数的频谱振幅参数值进行累加，得到多个频率参数各自对应的累加值，所述频率参数为频率点值或频率区间值；

对所述多个频率参数各自对应的累加值进行曲线拟合，得到所述测试图像的频谱密度曲线，所述测试图像的频谱密度曲线的横坐标表征频率参数的大小，所述测试图像的频谱密度曲线的纵坐标表征频率参数对应的累加值；

根据所述测试图像的频谱密度曲线和目标频率参数，得到所述干扰度。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，根据所述测试图像的频谱密度曲线和目标频率参数，得到所述干扰度，包括：

确定所述测试图像的频谱密度曲线，频率参数高于所述目标频率参数的频谱密度曲线下方的第一面积；

确定所述测试图像的频谱密度曲线下方的第二面积；

将所述第一面积与所述第二面积的比值，确定为所述干扰度。

4.根据权利要求2或3所述的检测方法，其特征在于，所述目标频率参数是按照以下步骤确定的：

获取合格指纹模组在屏幕下方时针对屏幕上的手指所采集的指纹图像；

对所述指纹图像中的指纹谷和/或指纹脊子图像进行变换，得到指纹谷和/或指纹脊子图像的频谱图；

根据所述指纹谷和/或指纹脊子图像的频谱图中各个像素点对应的频率，确定指纹谷和/或指纹脊对应的频率范围；

根据指纹谷和/或指纹脊对应的频率范围，确定所述目标频率参数。

5.根据权利要求2或3所述的检测方法，其特征在于，所述目标频率参数是按照以下步骤确定的：

获得多个合格指纹模组各自对应的合格测试图像的频谱密度曲线，以及，所述合格测试图像的频谱密度曲线是根据所述合格测试图像的频谱图中每个像素点对应的频率的频谱振幅参数值生成的；

获得多个不合格指纹模组各自对应的不合格测试图像的频谱密度曲线，所述不合格测试图像的频谱密度曲线是根据所述不合格测试图像的频谱图中每个像素点对应的频率的频谱振幅参数值生成的；

根据所述多个合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线，与所述多个不合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线的差异，确定干扰信号频率参数；

根据所述干扰信号频率参数，确定所述目标频率参数。

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，根据所述多个合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线，与所述多个不合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线的差异，确定干扰信号频率参数，包括：

确定所述多个合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线，与所述多个不合格指纹模组各自对应的频谱密度曲线之间的多个交点；

根据所述多个交点对应的频率，确定干扰信号频率参数。

7.根据权利要求1-6任一项所述的检测方法，其特征在于，根据所述指纹模组受元件干扰的干扰度，确定所述指纹模组的指纹图像采集性能是否合格，包括：

在所述干扰度大于干扰度阈值的情况下，确定所述指纹模组的指纹图像采集性能不合格；

在所述干扰度不大于所述干扰度阈值的情况下，确定所述指纹模组的指纹图像采集性能合格。

8.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述干扰度阈值是按照以下步骤确定的：

获得一个或多个合格指纹模组各自对应的干扰度，所述合格指纹模组是指该指纹模组的指纹图像采集性能合格；

根据一个或多个合格指纹模组各自对应的干扰度，确定所述干扰度阈值。