[发明专利]一种芯片测试方法、测试平台和设备

说明书

本发明实施例提供了一种芯片测试方法、测试平台和设备，所述方法包括：获取仿真验证模式，所述仿真验证模式包括：Virtio模块级验证和PCIe‑to‑Virtio子系统级验证；根据所述仿真验证模式编译相应的DUT代码与验证环境代码；利用测试用例进行仿真验证，Host侧Virtio驱动模拟根据所述测试用例设置的测试场景，调用相应的寄存器适配器，以基于相同的测试用例对不同的仿真验证模式进行验证。在本发明实施例中，实现待测设计DUT与验证环境例化对接自动适配，对Virtio模块级验证和PCIe‑to‑Virtio子系统级验证时，其测试用例能够全部复用，进而加速芯片验证收敛，缩短验证周期。

技术领域

本发明涉及芯片验证技术领域，特别涉及一种芯片测试方法、测试平台和设备。

背景技术

在智能网卡芯片中，PCIe(Peripheral Component Interconnect Express)和Virtio(Virtual I/O Device)是智能网卡芯片的两个关键核心功能模块。在对智能网卡芯片中进行测试时，根据芯片的规模、复杂度、仿真速度、定位难度、收敛速度，需要对Virtio进行模块级验证和PCIe-to-Virtio进行子系统级验证。

现有的技术中，芯片验证会在模块级验证搭建一个验证平台，在子系统级验证搭建一个验证平台，两个验证平台、两组测试用例，进而会导致复用性不高、重复工作、需要更多的人力投入，验证收敛速度慢。因此，如何实现复用性来加快芯片验证收敛是验证Virtio模块与PCIe-to-Virtio子系统需要解决问题。

发明内容

鉴于上述问题，本发明实施例提供了一种芯片测试方法、系统和设备，以便克服上述问题或者至少部分地解决上述问题。

本发明实施例的第一方面，公开了一种芯片测试方法，所述方法包括：

获取仿真验证模式，所述仿真验证模式包括：Virtio模块级验证和PCIe-to-Virtio子系统级验证；

根据所述仿真验证模式编译相应的DUT代码与验证环境代码；

利用测试用例进行仿真验证，Host侧Virtio驱动模拟根据所述测试用例设置的测试场景，调用相应的寄存器适配器，以基于相同的测试用例对不同的仿真验证模式进行验证。

可选地，所述获取仿真验证模式，包括：

读取所述测试平台中的验证脚本；

根据所述验证脚本，从用户运行测试用例命令行、或回归脚本中获取仿真验证模式。

可选地，所述根据所述仿真验证模式编译相应的DUT代码与验证环境代码，包括：

读取所述测试平台中的验证脚本；

针对Virtio模块级验证，从所述验证脚本中选择Virtio DUT文件列表与对应的验证环境例化对接、验证环境代码列表进行编译；

针对PCIe-to-Virtio子系统级验证，从所述验证脚本中选择PCIe、Virtio DUT文件列表与对应的验证环境例化对接、验证环境代码列表进行编译。

可选地，所述Host侧Virtio驱动模拟根据所述测试用例设置的测试场景，包括：

所述Host侧Virtio驱动模拟根据所述测试用例，模拟Host侧上层IO请求的产生和下发，模拟各类设备下的队列的结构维护。

可选地，所述Host侧Virtio驱动模拟根据所述测试用例，模拟Host侧上层IO请求的产生和下发，包括：

针对配置Virtio DUT寄存器操作，所述Host侧Virtio驱动调用测试平台中的寄存器模型，并利用所述寄存器模型将寄存器读写操作时序发送给DUT；