[发明专利]基于设备异常导致脏数据堆积的Wafer追溯方法

说明书

本发明公开了一种基于设备异常导致脏数据堆积的Wafer追溯方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)配置存储消息缓存池，定义缓存池消息键，设置缓存数据存储类型为Set，并指定缓存池大小；(2)保存消息数据，Set集合存储数据用于查询，同时定义List集合用于确定集合的长度，和保证数据先进先出的原则。(3)配置关联缓存池消息，设置关联字段和查询条件。(4)通过通配查找的SSCAN命令，利用游标迭代器返回数据。本发明所有的操作都是配置化，可视化，灵活化的，可根据业务自定义，自助式完成数据流的串联；通过自发明的索引机制可实现大数据高效检索，数据实时处理业务流程无延时，数据追溯中准确无丢失。

技术领域

本申请涉及大数据追随技术领域，具体涉及一种基于设备异常导致脏数据堆积的Wafer追溯方法。

背景技术

太阳能单片追溯中需要数据能够保存3年，以5GW的电池生产车间为背景，每天的产量约200W片，3年的产量约2,190,000,000片，太阳能电池设备使用的是PLC控制器控制设备的运作，PLC的存储空间有限，为了能够传递这么大的数据量只能以UDINT的数据在PLC中进行传递，因此这里设定的设备中流转的编码为10位UDINT的编码，10位编码中还需要考虑到各工艺段可能因为生产过程中没有硅片ID时需要补片，因为10位在存储如此上的时间范围内会导致重复，从而影响硅片追溯，故会生成ComponentID来作为追溯的ID，如此数据在流动中既需要将WaferID与ComponentID的关联绑定。

而实际中往往因为设备异常生成大量脏wafer数据，导致关联缓存中数据急剧膨胀，影响整体性能。根据配置构建WaferID的索引和数据，关联消息直接根据WaferID索引获取到数据得到数据内的ComponentID。性能低，缓存消息键急剧膨胀，性能受到影响。因整厂在生产中在制wafer会达到几百万，而这些在制的wafer不能清除，同时会因大量设备异常导致大量wafer也无法自动清除，缓存存储是基于每个WaferID构建与ComponentID的关系，即会导致上百万甚至千万的消息key存在，从而影响缓存数据库的整体访问性能。

发明内容

本申请提供了一种基于设备异常导致脏数据堆积的Wafer追溯方法，其目的在于，通过构建定长缓存数据池，解决因设备异常导致的大量数据堆积从而影响业务性能的问题。

一种基于设备异常导致脏数据堆积的Wafer追溯方法，包括如下步骤：

(1)配置存储消息缓存池，定义缓存池消息键，设置缓存数据存储类型为Set，并指定缓存池大小；

(2)保存消息数据，Set集合存储数据用于查询，同时定义List集合用于确定集合的长度，和保证数据先进先出的原则；

(3)配置关联缓存池消息，设置关联字段和查询条件；

(4)通过通配查找的SSCAN命令，利用游标迭代器返回数据。

作为优选实施例，所述步骤(4)中通过通配查找的SSCAN命令，利用游标迭代器返回数据。

有益效果：

(1)本发明利用缓存数据库Redis的List集合池的先进先出原则和Set集成池的游标迭代器机制，同时不会阻塞线程优势，在其上构建各工序设备的缓存池来缓存wafer数据从而解决太阳能行业中wafer追溯的过程中因设备异常导致的大量脏wafer数据，影响缓存数据库Redis性能从而影响单片追溯性能；

(2)所有的操作都是配置化，可视化，灵活化的，可根据业务自定义，自助式完成数据流的串联；整个流程中数据都基于缓存数据库存储，基于发明的数据池和业务配置流实现因设备异常导致的大量脏数据堆积的解决手动，实现高效检索，完成业务数据流的串联；

(3)通过构建定长缓存数据池解决因设备异常导致的大量数据堆积从而影响业务性能。业务流程都基于配置化完成，可根据业务进行调整立即生效，无需开发，高效方便；