[实用新型]一种自动化存储芯片测试装置有效

专利信息
申请号: 202220134360.0 申请日: 2022-01-19
公开(公告)号: CN216956928U 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 杨密凯 申请(专利权)人: 深圳市宏旺微电子有限公司
主分类号: G06F11/273 分类号: G06F11/273;G11C29/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 自动化 存储 芯片 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种自动化存储芯片测试装置,包含固定部与滑动部,其特征在于,所述的滑动部活动设置在所述的固定部之上,所述的滑动部相对于所述的固定部向后上方或前下方滑动;

所述的固定部包含芯片测试座,所述的芯片测试座设置在所述固定部的正面;

所述的滑动部包含芯片压紧件,所述的芯片压紧件设置在所述滑动部的正面,当所述滑动部向前下方滑动至工作位时,所述的芯片压紧件刚好压在所述的芯片测试座上。

2.如权利要求1所述的自动化存储芯片测试装置,其特征在于,所述的固定部还包含固定板,所述的固定板上竖直设置有驱动气缸;

所述的滑动部还包含滑动板,所述的滑动板上设置有滑动座,所述的滑动座连接所述驱动气缸的伸缩部,所述的滑动座被所述驱动气缸驱动并带动所述的滑动部滑动。

3.如权利要求2所述的自动化存储芯片测试装置,其特征在于,所述的固定板的两侧端各设置有一个第一支撑板,所述的第一支撑板上设置有第一滑动槽;

所述的滑动板的两侧端各设置有一个第二支撑板,所述的第二支撑板上固定设置有滑动销;

所述的滑动销插接入所述的滑动槽中,并在所述的滑动槽中滑动。

4.如权利要求2所述的自动化存储芯片测试装置,其特征在于,所述的固定板还设置有两个水平滑动的第一滑动件,所述的第一滑动件上设置有第三支撑板,所述的第三支撑板上设置第二滑动件;

所述的滑动板上设置有两个第四支撑板,两个所述的第四支撑板分别固定在两个所述的第二滑动件上并在所述的第二滑动件上竖直滑动。

5.如权利要求2所述的自动化存储芯片测试装置,其特征在于,所述的滑动板上开设有U型口,所述的滑动座竖直相对的两个面上各设置有一个第二滑动槽,所述的第二滑动槽上下两边对称设置有第一滑轮;

所述的滑动座顺着所述第二滑动槽的方向插接入所述滑动板的U型口内,所述的第一滑轮可以沿着所述滑动板的U型口两边往复滑动。

6.如权利要求3所述的自动化存储芯片测试装置,其特征在于,所述的固定板上还设置有:

第一传感器,用于探测所述的滑动部向后上方滑动至第一目标位置;

第二传感器,用于探测所述的滑动部向前下方滑动至第二目标位置。

7.如权利要求6所述的自动化存储芯片测试装置,其特征在于,所述的固定板上还设置有两个缓冲器,两个所述的缓冲器分别设置在所述第二支撑板的下面,当所述的第二支撑板向前下方滑动接近所述的第二目标位置时可以给所述的第二支撑板缓冲作用。

8.如权利要求1所述的自动化存储芯片测试装置,其特征在于,所述的芯片测试座至少包含一个芯片测试位。

9.如权利要求8所述的自动化存储芯片测试装置,其特征在于,所述的芯片测试位容置一个存储芯片。

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