[实用新型]一种验证EMMC芯片性能的夹具

说明书

本实用新型公开一种验证EMMC芯片性能的夹具，包括PCB板和设置在所述PCB板上的EMMC芯片管脚座子、第一电容C₁、第二电容C₂₁、三极管Q₁、数据线和输入端子，其中所述输入端子作为EMMC芯片电源的输入端，用于给EMMC芯片管脚座子供电管脚端使用，其中所述第一电容C₁、第二电容C₂并联连接，并且所述第一电容C₁和第二电容C₂的一端与接地端连接，另一端与EMMC芯片管脚座子的引脚和输入端子连接，所述三极管Q₁输出端与接地端和EMMC芯片管脚座子的引脚连接，所述三极管Q₁输入端与外部控制信息控制A连接。本实用新型成本低、操作方便。

技术领域

本实用新型涉及电子技术领域，且更具体地涉及一种验证EMMC芯片性能的夹具。

背景技术

在电子技术领域中，为了保证EMMC芯片能正常工作，就需要验证当EMMC芯片的CMD命令信号反复短路时能否正常工作的能力，验证EMMC芯片性能的可靠性，就需要该夹具板电路进行验证。现有技术存在的技术弊端有：

(1)成本高；

(2)结构复杂，操作复杂，工作效率低下。

实用新型内容

针对上述技术的不足，本实用新型公开一种验证EMMC芯片性能的夹具，本实用新型能够验证EMMC芯片CMD(命令)信号短路时数据传输功能是否失效，断开后数据传输是否正常的情况，以及EMMC电路能否正常工作。并能够验证研发阶段时EMMC芯片性能。

本实用新型采用以下技术方案：

一种验证EMMC芯片性能的夹具，包括PCB板和设置在所述PCB板上的EMMC芯片管脚座子、第一电容C₁、第二电容C₂₁、三极管Q₁、数据线和输入端子，其中所述输入端子作为EMMC芯片电源的输入端，用于给EMMC芯片管脚座子供电管脚端使用，其中所述第一电容C₁、第二电容C₂并联连接，并且所述第一电容C₁和第二电容C₂的一端与接地端连接，另一端与EMMC芯片管脚座子的引脚和输入端子连接，所述三极管Q₁输出端与接地端和EMMC芯片管脚座子的引脚连接，所述三极管Q₁输入端与外部控制信息控制A连接。

在本实用新型中，所述接地端接地。

在本实用新型中，所述输入端子的输出电压为1.8V。

在本实用新型中，所述EMMC芯片管脚座子包括22个管脚，用于将待测试的EMMC芯片焊接在座子上面。

在本实用新型中，管脚1为EMMC芯片的CLK管脚，管脚2命令控制管脚，管脚3为芯片RST管脚，管脚4～11为EMMC芯片数据信号管脚，管脚12～15为EMMC芯片的电源管脚；管脚16～22为EMMC芯片的接地管脚。

在本实用新型中，第一电容C₁、第二电容C₂为电源滤波电容。

在本实用新型中，第一电容C₁、第二电容C₂为的值分别为10uf和0.1uf。

在本实用新型中，所述第一电容C₁和第二电容C₂的另一端与EMMC芯片管脚座子的引脚15连接。

在本实用新型中，所述三极管Q₁输出端与EMMC芯片管脚座子的引脚22连接。

积极有益效果：