[实用新型]一种可调节的粮食检测装置有效
申请号: | 202220179302.X | 申请日: | 2022-01-21 |
公开(公告)号: | CN216816637U | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | 程睿;范光宇 | 申请(专利权)人: | 安徽省拓思智能科技有限公司 |
主分类号: | G01N33/02 | 分类号: | G01N33/02;G01V9/00 |
代理公司: | 合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160 | 代理人: | 李浩宇 |
地址: | 236600 安徽省阜阳市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 调节 粮食 检测 装置 | ||
本实用新型涉及一种可调节的粮食检测装置,属于粮食检测设备技术领域,包括检测平台,所述检测平台上端面开设有凹槽,所述凹槽内部设置有调节机构,所述调节机构通过连接组件设置有驱动机构,所述调节机构包括第一筛分盘和第二筛分盘,且第二筛分盘位于第一筛分盘上方;通过设置调节机构,通过在第一筛分盘上转动第二筛分盘,当第二筛分盘上的孔径与第一筛分盘上的孔径重合时,达到调节机构上的过滤孔径最大,当第二筛分盘上的孔径与第一筛分盘上的孔径交替时,从而达到对调节机构上的过滤孔径调节,当调节机构上的过滤孔径最大时,能对检测样品中的粮食检测是否含有外壳等资质,能根据杂质的过滤孔径从而调整调节机构上的过滤孔径。
技术领域
本实用新型属于粮食检测设备技术领域,具体涉及一种可调节的粮食检测装置。
背景技术
现有技术中,如图4所示,粮食检测设备8用于检测样品中的大米是否含有大米外壳或其他杂质的残留,通常采用振动筛9的方式对大米进行筛选检测处理,粮食检测设备底层含有大米外壳或其他杂质的残留则说明大米筛分不合格,但筛选的网格并不具备根据筛分杂质的孔径大小从而调节孔径大小的功能。
实用新型内容
为解决现有技术中存在的上述问题,本实用新型提供了一种可调节的粮食检测装置。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现:
一种可调节的粮食检测装置,包括检测平台,所述检测平台上端面开设有凹槽,所述凹槽内部设置有调节机构,所述调节机构通过连接组件设置有驱动机构,所述调节机构包括第一筛分盘和第二筛分盘,且第一筛分盘上端面与第二筛分盘的下端面转动连接,所述第一筛分盘上端面开设有若干个呈环形分布的安装孔,所述第二筛分盘上端面对称活动贯穿有与安装孔适配的卡杆,所述第一筛分盘上设置有第一筛分网,所述第二筛分盘上设置有第二筛分网。
作为本实用新型的一种可调节的粮食检测装置优选技术方案,所述驱动机构为安装在检测平台底部的驱动电机,所述驱动电机的输出轴连接有驱动轴,且驱动轴的端部贯穿至检测平台的凹槽内,所述驱动轴一侧固定套接有刮板,且刮板与凹槽底部端面活动贴合。
作为本实用新型的一种可调节的粮食检测装置优选技术方案,所述连接组件为固定设置在驱动轴端部的支撑套,且支撑套位于刮板上方,所述支撑套上端面对称固定设有安装杆,所述第一筛分盘底部端面对称开设有与安装杆卡合适配的卡槽。
作为本实用新型的一种可调节的粮食检测装置优选技术方案,所述检测平台上端面通过支架安装有驱动气缸,所述驱动气缸的输出端朝下且端部通过升降板对称安装有机械抓手。
作为本实用新型的一种可调节的粮食检测装置优选技术方案,所述第一筛分盘上端面对称设置有固定板。
作为本实用新型的一种可调节的粮食检测装置优选技术方案,所述凹槽底部端面上开设有下料口。
本实用新型的有益效果为:
通过设置调节机构,通过在第一筛分盘上转动第二筛分盘,当第二筛分盘上的孔径与第一筛分盘上的孔径重合时,达到调节机构上的过滤孔径最大,当第二筛分盘上的孔径与第一筛分盘上的孔径交替时,从而达到对调节机构上的过滤孔径调节,当调节机构上的过滤孔径最大时,能对检测样品中的粮食检测是否含有外壳等资质,能根据杂质的过滤孔径从而调整调节机构上的过滤孔径。
附图说明
为了便于本领域技术人员理解,下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为本实用新型中第一筛分盘俯视结构示意图;
图3为本实用新型中调节机构俯视结构示意图;
图4为现有技术结构示意图;
主要元件符号说明
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