[实用新型]一种虚拟校验设备有效

专利信息
申请号: 202220242022.9 申请日: 2022-01-28
公开(公告)号: CN217276111U 公开(公告)日: 2022-08-23
发明(设计)人: 杨立文 申请(专利权)人: 道本(北京)科技有限公司
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;B65G37/02
代理公司: 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 代理人: 戚红
地址: 100000 北京市丰台区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 虚拟 校验 设备
【说明书】:

实用新型涉及测量设备技术领域,公开了一种虚拟校验设备,包括用于输送工件托盘的工件输送线,所述工件托盘上放置有具有装配关系的第一工件和第二工件,相邻的工件输送线之间设有工件扫描位,所述工件扫描位处设有升降支撑台,所述升降支撑台上设有转盘;所述工件输送线的一侧设有六轴机器人,较优的,所述六轴机器人可以是库卡六轴机械臂,所述六轴机器人上设有三维空间扫描仪,所述工件输送线的上方设有C‑Track光学跟踪器;本实用新型提供的一种虚拟校验设备,解决了目前无法提前得知两个成型工件的装配效果的问题。

技术领域

本实用新型涉及测量设备技术领域,具体涉及一种虚拟校验设备。

背景技术

工件在成型过程中会有一定的误差,由于误差而最终导致装配体出现复合偏差,特别是具有活动零部件的装配体,相邻工件会因成型误差而影响装配体的实际使用效果,比如活动工件装配完之后其可移动的极限位置若与其他部件之间产生干涉,如图1所示,图中A和B处属于a工件和b工件之间的干涉区域,则需要对工件进行适当的处理。而目前,如何能够发现装配好之后的产品实际情况,会否影响产品的实际使用,都需要实际完成装配后才能发现,产品的质量发现时间延后且会消耗装配产品的时间,因此,如何提供一种能够提前发现成型工件装配好之后的效果以便对相应工件进行适当的处理成为目前急需解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种虚拟校验设备,用以解决现有技术中存在的至少一个上述问题。

为了实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案:

一种虚拟校验设备,包括用于输送工件托盘的工件输送线,所述工件托盘上放置有具有装配关系的第一工件和第二工件,相邻的工件输送线之间设有工件扫描位,所述工件扫描位处设有升降支撑台,所述升降支撑台上设有转盘;所述工件输送线的一侧设有六轴机器人,所述六轴机器人上设有三维空间扫描仪,所述工件扫描位的上方设有C-Track光学跟踪器。

本技术方案中,工件输送线用于输送工件托盘,工件托盘上放置有第一工件和第二工件,第一工件和第二工件具有装配关系,将工件扫描位设置在相邻的工件输送线之间,则每一工件托盘均会经过工件扫描位,便于对其进行工件扫描;由于工件扫描位处设有升降支撑台,升降支撑台上设有转盘,则升降支撑台能够调整工件托盘的高度,进而调整工件的高度,转盘可以实现对工件托盘的转动,从而实现对放置在工件托盘上的第一工件和第二工件的转动,便于从不同角度实现对工件的扫描,从而能够更好的配合三维空间扫描仪及C-Track光学跟踪器进行全方位的扫描覆盖。具体的,通过转盘的转动能够实现对第一工件和第二工件位置的调整,便于更好的实现对两个工件进行全面的扫描,工件输送线的一侧设有六轴机器人,六轴机器人上设有三维空间扫描仪,通过六轴机器人能够实现对三维空间扫描仪的移动,从而调整三维空间扫描仪的扫描位置。由于工件输送线的上方设有C-Track光学跟踪器,通过C-Track光学跟踪器可以实现对工件上靶点的快速定位,以便实现空间坐标系的建立,之后便于三维空间扫描仪对工件进行三维空间全面扫描。

综上,本设计,从对工件的定位、转动、以及三维空间扫描仪、C-Track光学跟踪器的配合移动,为目前如何实现对具有装配关系的两个工件进行自动化扫描提供了完整的解决方案,从而解决了目前无法提前得知两个成型工件的装配效果的问题。综上,本设计,从对工件的定位、转动、以及三维空间扫描仪、C-Track光学跟踪器的配合移动,为目前如何实现对具有装配关系的两个工件进行自动化扫描提供了完整的解决方案,从而解决了目前无法提前得知两个成型工件的装配效果的问题。本设备能够在虚拟装配中模拟零部件的实际运动,校验是否会存在干涉等问题。即在虚拟环境下确认工件实际装配效果,免去实际的装配动作,节省劳动力,减小校验难度和实际零件在校验过程中损坏的风险。

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