[实用新型]能防破泡的吹膜机旋转测厚装置有效
申请号: | 202220271090.8 | 申请日: | 2022-02-10 |
公开(公告)号: | CN217293496U | 公开(公告)日: | 2022-08-26 |
发明(设计)人: | 李子平;孙靖寰;林洁波 | 申请(专利权)人: | 广东金明精机股份有限公司 |
主分类号: | B29C55/28 | 分类号: | B29C55/28;G01B17/00;G01B21/08 |
代理公司: | 汕头市高科专利代理有限公司 44103 | 代理人: | 黄河长 |
地址: | 515098 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 能防破泡 吹膜机 旋转 装置 | ||
一种能防破泡的吹膜机旋转测厚装置,包括测厚探头、活动支架、圆环形导轨,测厚探头安装在活动支架上,活动支架能周向移动地安装在圆环形导轨上,还设有驱动活动支架沿圆环形导轨移动的活动支架驱动机构,其主要特点在于,活动支架上安装有径向导轨,所述测厚探头能滑动地安装在径向导轨上,还设有驱动测厚探头沿径向导轨移动的测厚探头驱动机构;在活动支架上还设有超声波测距仪,超声波测距仪相对于测厚探头所处的方位位于活动支架沿圆环形导轨旋转方向的前侧;还设有中央控制器,所述超声波测距仪连接到中央控制器,中央控制器连接到测厚探头驱动机构。本实用新型能避免使测厚探头与膜泡发生明显剐蹭。
技术领域
本实用新型属于吹膜设备的技术领域,具体涉及一种能防破泡的吹膜机旋转测厚装置。
背景技术
吹膜设备在生产塑料薄膜过程中,熔融塑料物料从模头的圆环形挤出口挤出,之后利用压缩空气将吹胀成为环形膜泡,接着环形膜泡被牵引夹辊夹扁成为双层。
为了使薄膜产品的实际厚度等于设计厚度,在生产过程中必须不断监测并调控薄膜的实际厚度,为此必须不断对环形膜泡周向上各点的实际厚度进行检测。为了检测环形膜泡周向上各点的实际厚度,现有技术中,使用测厚探头围绕着环形膜泡不断转动进行巡回检测,然后将测得的数值实时传送给数据处理器。测厚探头安装安装在圆圆环形导轨上并沿该圆环形导轨滑动,测厚探头与膜泡表面贴近并沿膜泡周向移动,从而检测出周向上各点的实际厚度。
然而,由于吹胀气流的不稳定性,以及牵引夹辊将膜泡夹扁等因素的影响,环形膜泡的横截面并非标准圆形,其周向各点与模头圆环形挤出口的中心轴线的水平距离有所差别变化,如果在某段时间某个区域内的这种变化率(指极径变化值与极角变化值的比率)比较大,即膜泡的半径在某个区域内变化比较急骤,就意味着测厚探头侵入膜泡的径向深度有可能急骤变大,而此时的膜泡尚还比较稚嫩并且带有粘性,因此不停旋转着的测厚探头就有可能将膜泡刮破(蹭破)。例如,在图1中,膜泡8在A点处的半径较小,而B点处的半径较大,当测厚探头旋转经过B点处时,就与B点处的摩擦力较大,可能在B点处将膜泡8刮破(蹭破) 。
实用新型内容
本实用新型的目的是在克服上述缺点提供一种能防破泡的吹膜机旋转测厚装置,它能避免使测厚探头与膜泡发生明显剐蹭。
其目的可以按以下方案实现:一种能防破泡的吹膜机旋转测厚装置,包括测厚探头、活动支架、圆环形导轨,测厚探头安装在活动支架上,活动支架能周向移动地安装在圆环形导轨上,还设有驱动活动支架沿圆环形导轨移动的活动支架驱动机构,其主要特点在于,活动支架上安装有径向导轨,所述测厚探头能滑动地安装在径向导轨上,还设有驱动测厚探头沿径向导轨移动的测厚探头驱动机构;在活动支架上还设有超声波测距仪,超声波测距仪相对于测厚探头所处的方位位于活动支架沿圆环形导轨旋转方向的前侧(也就是说,如果活动支架沿圆环形导轨顺时针旋转,则超声波测距仪位于测厚探头的顺时针侧;反之如果活动支架沿圆环形导轨逆时针旋转,则超声波测距仪位于测厚探头的逆时针侧);还设有中央控制器,所述超声波测距仪连接到中央控制器,中央控制器连接到测厚探头驱动机构。
所述测厚探头驱动机构是指:活动支架上设有对测厚探头施加径向拉力的弹簧,弹簧的弹力方向为圆环形导轨的离心方向;活动支架上还设有气缸,气缸的活塞杆延伸方向为径向导轨的延伸方向,气缸的活塞杆挺出方向为圆环形导轨的向心方向,气缸的活塞杆末端连接有推块,推块位于测厚探头的离心侧,推块与测厚探头两者分体设置;活动支架上还能竖向滑动地安装有顶部呈三角形的限位卡块,限位卡块的顶部包括有斜面和直立面,斜面位于直立面的离心侧;限位卡块的底部一体连接有磁块,在磁块下方还设有固定不动的电磁线圈;当电磁线圈通入正向电流时,电磁线圈与磁块形成吸合关系,磁块和限位卡块在电磁线圈磁吸力的作用下位于其竖向滑动轨迹的下端,限位卡块的顶部避让测厚探头沿径向导轨滑动的滑动轨迹;当测厚探头位于径向导轨的近心端且电磁线圈通入反向电流时,电磁线圈与磁块的磁场形成排斥关系,磁块和限位卡块在电磁线圈磁斥力的作用下位于其竖向滑动轨迹的上端,限位卡块顶部的直立面挡住测厚探头沿径向导轨向离心方向滑动的滑动轨迹。
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