[实用新型]射频芯片老化测试讯号源系统有效
| 申请号： | 202220377997.2 | 申请日： | 2022-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN217213029U | 公开（公告）日： | 2022-08-16 |
| 发明（设计）人： | 黄盛亿 | 申请（专利权）人： | 中睿技术检测（如东）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人： | 卜另北 |
| 地址： | 226400 江苏省南通市如东县高*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 射频 芯片 老化 测试 讯号 系统 | ||
1.射频芯片老化测试讯号源系统，包括芯片、以及用于放置芯片的老化板，其特征在于，还包括频率源，所述频率源的输出端电连接有一个功率放大器Ⅰ，所述功率放大器Ⅰ的输出端电连接有一个功率分配器Ⅰ，所述功率分配器Ⅰ的输出端电连接有多个功率放大器Ⅱ，每个所述功率放大器Ⅱ的输出端均分别电连接有一个功率分配器Ⅱ，每个所述功率分配器Ⅱ的输出端均分别与多个芯片电连接。
2.根据权利要求1所述的射频芯片老化测试讯号源系统，其特征在于，所述频率源为20MHz～9.8GHz的频率源，所述频率源的输出功率范围为-31.5 dBm～9.4 dBm，所述功率分配器Ⅰ为八路功率分配器，所述功率分配器Ⅱ为十六路功率分配器。
3.根据权利要求2所述的射频芯片老化测试讯号源系统，其特征在于，所述频率源的输出端与功率放大器Ⅰ的接收端之间、功率放大器Ⅰ的输出端与功率分配器Ⅰ的接收端之间、功率分配器Ⅰ的输出端与功率放大器Ⅱ的接收端之间、以及功率分配器Ⅱ的输出端与芯片之间均分别连接有第一射频电缆。
4.根据权利要求3所述的射频芯片老化测试讯号源系统，其特征在于，所述功率放大器Ⅱ的输出端与功率分配器Ⅱ的接收端之间连接有第二射频电缆。
5.根据权利要求4所述的射频芯片老化测试讯号源系统，其特征在于，所述第一射频电缆的长度为30cm，所述第二射频电缆的长度为2m。
6.根据权利要求4所述的射频芯片老化测试讯号源系统，其特征在于，所述功率放大器Ⅱ的数量为5个，所述功率分配器Ⅱ的数量为5个，每个所述功率分配器Ⅱ的输出端均分别与16颗芯片电连接。
7.根据权利要求6所述的射频芯片老化测试讯号源系统，其特征在于，所述第一射频电缆的数量为87条，所述第二射频电缆的数量为5条。
8.根据权利要求6所述的射频芯片老化测试讯号源系统，其特征在于，所述芯片等量分布于老化板上，所述老化板的数量为5个。
9.根据权利要求1所述的射频芯片老化测试讯号源系统，其特征在于，所述系统还包括老化炉，所述老化板和功率分配器Ⅱ均位于老化炉内。
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