[实用新型]一种氮化镓衬底上反相器和环形振荡器有效
申请号: | 202220394893.2 | 申请日: | 2022-02-25 |
公开(公告)号: | CN216773248U | 公开(公告)日: | 2022-06-17 |
发明(设计)人: | 梁烨;张元雷;朱昱豪;刘雯 | 申请(专利权)人: | 西交利物浦大学 |
主分类号: | H01L27/085 | 分类号: | H01L27/085;H01L29/06 |
代理公司: | 苏州谨和知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32295 | 代理人: | 叶栋 |
地址: | 215123 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氮化 衬底 上反相器 环形 振荡器 | ||
1.一种氮化镓衬底上反相器和环形振荡器,其特征在于,包括:
Si衬底;
GaN缓冲层,形成于所述Si衬底上;
GaN沟道层,形成于所述GaN缓冲层上;
AlGaN势垒层,形成于所述GaN沟道层上;
E-mode器件和D-mode器件,形成于所述AlGaN势垒层上,所述E-mode器件和所述D-mode器件的源极和漏极区域溅射Ti/Al/Ni/Au或Ti/Al/Ni/TiN或Ti/Al/W或Ti/Al/Ni/W的金属组合,所述D-mode器件的有源区上覆盖耐高温掩膜;
电荷隧穿层,形成于所述E-mode器件和D-mode器件上;
电荷储存层,形成于所述电荷隧穿层上;
电荷阻挡层,形成于所述电荷储存层上;
其中,去除所述E-mode器件的欧姆接触区上方的电荷隧穿层、电荷储存层和电荷阻挡层,去除所述D-mode器件的欧姆接触区上方的电荷隧穿层,分别定义所述E-mode器件和所述D-mode器件的栅极金属区域,并在栅极上溅射Ni/Au或Ni/TiN或Ni/W的金属组合,分别在所述E-mode器件和所述D-mode器件的表面生长若干层不导电电介质,使所述E-mode器件和所述D-mode器件间的电极绝缘,分别对所述E-mode和所述D-mode的栅极、源极和漏极区域进行不导电电介质的开孔,对所述E-mode和所述D-mode器件进行互联。
2.根据权利要求1所述的氮化镓衬底上反相器和环形振荡器,其特征在于,采用电子束蒸发蒸镀或金属溅射方法溅射漏极和源极金属,欧姆接触区域每种金属厚度为1nm-10um;溅射漏极和源极金属后进行热退火,退火温度为100°-1030°。
3.根据权利要求1所述的氮化镓衬底上反相器和环形振荡器,其特征在于,采用原子层沉积方法生长所述电荷隧穿层,所述电荷隧穿层材料为厚度1nm-1um的宽带隙氧化物。
4.根据权利要求1所述的氮化镓衬底上反相器和环形振荡器,其特征在于,所述耐高温掩膜为金属掩膜或碳膜;采用原子层沉积方法生长所述电荷储存层,所述电荷储存层材料为厚度1nm-1um的低带隙氧化物。
5.根据权利要求1所述的氮化镓衬底上反相器和环形振荡器,其特征在于,所述电荷阻挡层材料为厚度1nm-1um的宽带隙氧化物。
6.根据权利要求1所述的氮化镓衬底上反相器和环形振荡器,其特征在于,采用酸法腐蚀去除所述E-mode器件的欧姆接触区上方的所述电荷隧穿层、电荷储存层和电荷阻挡层。
7.根据权利要求1所述的氮化镓衬底上反相器和环形振荡器,其特征在于,采用酸法腐蚀去除所述D-mode器件的欧姆接触区上方的所述电荷隧穿层。
8.根据权利要求1所述的氮化镓衬底上反相器和环形振荡器,其特征在于,采用电子束蒸发蒸镀或金属溅射方法溅射栅极区域金属,栅极区域每种金属厚度为1nm-10um。
9.根据权利要求1所述的氮化镓衬底上反相器和环形振荡器,其特征在于,若干层所述不导电电介质的厚度为1nm-50um。
10.根据权利要求1所述的氮化镓衬底上反相器和环形振荡器,其特征在于,互联的金属为厚度1nm-10um的导电金属。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西交利物浦大学,未经西交利物浦大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202220394893.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种可自移带伸缩的门式端头临时支护
- 下一篇:一种多功能用超前液压支架
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的