[实用新型]一种基于超表面的压电套管扫描式内窥成像装置

权利要求书

1.一种基于超表面的压电套管扫描式内窥成像装置，用于检测待检组织(4)，其特征在于：包括光源(1)、光强探测器(7)、信号处理单元(8)、外壳总成(2)及封装在所述外壳总成(2)内的探测系统；

所述探测系统由照明部分和摄像部分组成，包括第一功能光纤(3)、第二功能光纤(6)、压电套管(9)、梯度折射率光纤(10)、超表面(11)以及内窥镜保护壳(12)，所述压电套管(9)套在第一功能光纤(3)的末端，所述超表面(11)经所述梯度折射率光纤(10)连接在所述第一功能光纤(3)的末端，所述内窥镜保护壳(12)套设于所述第一功能光纤(3)、第二功能光纤(6)、压电套管(9)、梯度折射率光纤(10)及超表面(11)；

所述第一功能光纤(3)为导光光纤，所述第二功能光纤(6)为摄像光纤，所述光源(1)发出的光经过所述导光光纤照射到待检组织(4)上，所述压电套管(9)控制所述第一功能光纤(3)在二维平面上扫描，待检组织(4)的信息经过第二功能光纤(6)传到所述光强探测器(7)，最终信号经过所述信号处理单元(8)处理得到清晰的图像。

2.根据权利要求1所述的压电套管扫描式内窥成像装置，其特征在于：所述第一功能光纤(3)为摄像光纤，所述第二功能光纤(6)为导光光纤。

3.根据权利要求1或2所述的压电套管扫描式内窥成像装置，其特征在于：所述梯度折射率光纤(10)还包括第三功能光纤，所述第三功能光纤为用于将所述第一功能光纤中出射光束准直为平面波。

4.根据权利要求1或2所述的压电套管扫描式内窥成像装置，其特征在于：所述超表面(11)同轴设置于所述梯度折射率光纤(10)的顶端；或者，所述超表面(11)设置于梯度折射率光纤(10)侧面。

5.根据权利要求1所述的压电套管扫描式内窥成像装置，其特征在于：所述超表面(11)还经所述梯度折射率光纤(10)连接在所述第二功能光纤(6)的末端。