[实用新型]一种CPU片上外设通用测试设备

说明书

本实用新型公开了一种CPU片上外设通用测试设备，属于CPU测试技术领域，目的在于解决现有CPU片上外设测试一般采用仿真、设计验证电路进行实物测试，针对于一款CPU的测试验证设备功能固定，不能根据用户测试需要灵活配置测试资源；而不同型号被测CPU外设也存在差异，一个测试设备难以满足多种被测CPU的接入与测试，只能通过定制多种测试设备的方式实现，存在测试不全、灵活性差、成本高、测试耗时长等问题。其经过路由背板的交换路由功能，用户可通过管理软件的操作将被测CPU的各种端口灵活的连接到各业务子卡，并根据测试需要灵活配置测试资源，满足多种被测CPU的接入与测试，实现测试资源柔性配置，测试设备可复用，具有一定通用性，大大降低了测试成本。

技术领域

本实用新型属于CPU测试技术领域，具体涉及一种CPU片上外设通用测试设备。

背景技术

中央处理器(central processing unit，简称CPU)作为计算机系统的运算和控制核心，是信息处理、程序运行的最终执行单元。为实现高效数据处理和交互，将一些常用外设资源集成在芯片内，形成CPU片上外设。对CPU片上外设进行测试验证，是CPU开发与应用的必要环节。

CPU片上外设测试设备可应用于：

1、CPU片上资源测试，评估其稳定性。

2、基于CPU的嵌入式软件的调试、验证。在嵌入式软件的测试验证工作中，软件设计工程师能够利用该设备搭建软件运行的硬件环境，开展软件设计、调试、验证工作。3、还可验证基于某处理器的应用方案可行性。

目前CPU片上外设测试一般采用仿真、设计验证电路进行实物测试。针对于一款CPU的测试验证设备功能固定，不能根据用户测试需要灵活配置测试资源；而不同型号被测CPU外设也存在差异，一个测试设备难以满足多种被测CPU的接入与测试，只能通过定制多种测试设备的方式实现，存在测试不全、灵活性差、成本高、测试耗时长等诸多缺点。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：提供一种CPU片上外设通用测试设备，解决现有CPU片上外设测试一般采用仿真、设计验证电路进行实物测试，针对于一款CPU的测试验证设备功能固定，不能根据用户测试需要灵活配置测试资源；而不同型号被测CPU外设也存在差异，一个测试设备难以满足多种被测CPU的接入与测试，只能通过定制多种测试设备的方式实现，存在测试不全、灵活性差、成本高、测试耗时长等问题。

本实用新型采用的技术方案如下：

一种CPU片上外设通用测试设备，包括机箱，所述机箱上安装有电源和路由背板，所述路由背板电信号连接有CPU子卡、若干业务子卡、控制调试子卡，所述路由背板与电源电连接，所述业务子卡包括CAN-串口子卡、I2C-AD子卡、SPI-1553B子卡、1553B子卡、ARM子卡、GPIO子卡。

进一步地，所述路由背板设置有9个槽位，所述CPU子卡通过两个槽位于路由背板电信号连接。

进一步地，所述CPU子卡上还电连接有USB接口、以太网接口、外部时钟输入接口、ADC外部参考电平输入接口。

进一步地，所述ARM子卡上设置有三片ARM处理器。

进一步地，所述ARM处理器分别设置有1路RS485接口、1路TTL接口、1路CAN接口、ADC外部参考电平输入接口、JTAG接口、8～10路GPIO接口。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：